[发明专利]变频器输出电流的检测方法及其变频器

权利要求书

1.一种变频器输出电流的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

获取在半导体开关件接通时的电流波动时间；

将半导体开关件最小接通时间设置为大于所述电流波动时间；

将在半导体开关件接通时间中的电流检测时间点设置在所述电流波动时间之后。

2.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述检测方法包括以下步骤：

根据配线长度确定半导体开关件初始接通时间；

确定在所述半导体开关件初始接通时间中的实际电流波动时间；

将半导体开关件最小接通时间设置为大于所述实际电流波动时间；

将在半导体开关件接通时间中的电流检测时间点设置在所述实际电流波动时间之后。

3.如权利要求2所述的检测方法，其特征在于，确定半导体开关件初始接通时间的步骤包括：

根据配线长度确定初始电流波动时间；

将半导体开关件初始接通时间设置为大于所述初始电流波动时间。

4.如权利要求3所述的检测方法，其特征在于，所述半导体开关件初始接通时间为所述初始电流波动时间加上第一预定时间；所述第一预定时间取自范围2微秒-10微秒。

5.如权利要求3所述的检测方法，其特征在于，所述初始电流波动时间包括：利用配线长度与电流波动时间的对应关系公式计算得到的理论电流波动时间，或者，根据配线长度确定的电流波动时间经验值，或者，根据预存的不同配线长度所对应的电流波动时间确定的预存电流波动时间。

6.如权利要求2所述的检测方法，其特征在于，根据预存的不同配线长度所对应的半导体开关件接通时间确定半导体开关件初始接通时间。

7.如权利要求4所述的检测方法，其特征在于，所述确定实际电流波动时间的步骤包括：

在所述半导体开关件初始接通时间中在所述初始电流波动时间之后确定初始电流检测时间点；

从初始电流检测时间点按照预定间隔时间向前逐个采样直至得到初始电流安定时间点，将初始电流安定时间点之前的时间作为实际电流波动时间。

8.如权利要求7所述的检测方法，其特征在于，所述初始电流检测时间点位于区间[初始电流波动时间的最后时间点，半导体开关件初始接通时间的最后时间点)。

9.如权利要求7所述的检测方法，其特征在于，所述初始电流检测时间点为初始电流波动时间加上第二预定时间在所述半导体开关件初始接通时间中的最后时间点，其中，0≤所述第二预定时间＜第一预定时间。

10.如权利要求7所述的检测方法，其特征在于，所述预定间隔时间为1微秒-3微秒。

11.如权利要求7所述的检测方法，其特征在于，以初始电流检测时间点采样得到的u相电流值为Iu(0)，后续第n个电流检测时间点采样得到的u相电流值为Iu(n)，将满足Iu(n)与Iu(0)的差值的绝对值小于预定值的最后一个电流检测时间点作为初始电流安定时间点。

12.如权利要求2所述的检测方法，其特征在于，确定所述半导体开关件最小接通时间的步骤包括：所述半导体开关件最小接通时间为所述实际电流波动时间加上第三预定时间；所述第三预定时间取自范围2微秒-10微秒。

13.如权利要求12所述的检测方法，其特征在于，所述设置电流检测时间点的步骤包括：将电流检测时间点设置在半导体开关件接通时间的1/2时间点之后延迟第四预定时间；所述第四预定时间按照如下公式计算：第四预定时间等于二分之一的半导体开关件最小接通时间减去预定调整值。

14.如权利要求13所述的检测方法，其特征在于，所述预定调整值不超过所述第三预定时间。