[发明专利]一种用于IC铜阻挡层CMP的抛光组合物及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202011055094.4 申请日: 2020-09-30
公开(公告)号: CN112175525A 公开(公告)日: 2021-01-05
发明(设计)人: 宋伟红;蔡庆东 申请(专利权)人: 常州时创新材料有限公司
主分类号: C09G1/02 分类号: C09G1/02;H01L21/768
代理公司: 苏州曼博专利代理事务所(普通合伙) 32436 代理人: 宋俊华
地址: 213300 江苏省常*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 ic 阻挡 cmp 抛光 组合 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种用于IC铜阻挡层CMP的抛光组合物,其特征在于,其各组分的质量百分含量为:

分散剂 0.01%~0.5%,

缓蚀剂 0.01%~0.5%,

润湿剂 0.005%~0.5%,

有机溶剂 1%~20%,

氧化剂 0.01%~1%,

磨料 5%~20%,

消泡剂 0.01%~0.1%,

余量为去离子水。

2.根据权利要求1所述的用于IC铜阻挡层CMP的抛光组合物,其特征在于,所述分散剂为氧化石墨烯,比表面为1000-3000m2/g。

3.根据权利要求1所述的用于IC铜阻挡层CMP的抛光组合物,其特征在于,所述缓蚀剂为唑类化合物和植酸或植酸衍生物的混合物。

4.根据权利要求3所述的用于IC铜阻挡层CMP的抛光组合物,其特征在于,所述唑类化合物选自脂环类三唑化合物或芳环类三唑化合物。

5.根据权利要求4所述的用于IC铜阻挡层CMP的抛光组合物,其特征在于,所述脂环类三唑化合物的通式如下:

其中,R1和R2分别为烃基、芳香基、巯基、羧基、氨基或羟基。

6.根据权利要求4所述的用于IC铜阻挡层CMP的抛光组合物,其特征在于,所述芳环类三唑化合物的通式如下:

其中,R1和R2分别为甲基、乙基、羧基、氨基或巯基。

7.根据权利要求1所述的用于IC铜阻挡层CMP的抛光组合物,其特征在于,所述润湿剂为炔二醇聚醚类化合物。

8.根据权利要求1所述的用于IC铜阻挡层CMP的抛光组合物,其特征在于,所述润湿剂为炔二醇聚氧乙烯、炔二醇聚氧丙烯或炔二醇聚氧丙烯聚氧乙烯化物。

9.根据权利要求1所述的用于IC铜阻挡层CMP的抛光组合物,其特征在于,所述润湿剂为2,5,8,11-四甲基-6-十二碳炔-5,8-二醇聚氧乙烯醚。

10.根据权利要求1所述的用于IC铜阻挡层CMP的抛光组合物,其特征在于,所述有机溶剂为二元醇醚类有机溶剂。

11.根据权利要求1所述的用于IC铜阻挡层CMP的抛光组合物,其特征在于,所述有机溶剂选自乙二醇甲醚、乙二醇乙醚、乙二醇丁醚,丙二醇甲醚、丙二醇乙醚、二乙二醇丁醚中的一种或几种。

12.根据权利要求1所述的用于IC铜阻挡层CMP的抛光组合物,其特征在于,所述氧化剂选自过氧化物、过流化物、卤酸、高卤酸类、硝基化合物。

13.根据权利要求1所述的用于IC铜阻挡层CMP的抛光组合物,其特征在于,所述氧化剂选自高氯酸、高氯酸钾、高氯酸钾、氯酸钾、氯酸钠、高碘酸、高碘酸钾、高碘酸钠、碘酸、碘酸钾、过氧化氢、臭氧、过硫酸钾、过硫酸铵、过硫酸钠、硝酸钾、硝酸钠、硝酸铵中的一种或几种。

14.根据权利要求1所述的用于IC铜阻挡层CMP的抛光组合物,其特征在于,所述磨料为二氧化硅,磨料为球形或纺锤形,粒度在10~100nm。

15.根据权利要求1所述的用于IC铜阻挡层CMP的抛光组合物,其特征在于,所述消泡剂为改性的聚硅氧烷消泡剂。

16.权利要求1至15所述用于IC铜阻挡层CMP的抛光组合物的制备方法,其特征在于,将分散剂、缓蚀剂、润湿剂、有机溶剂、氧化剂在搅拌条件下依次加入磨料中,再加入消泡剂,再用pH调节剂将溶液的pH值调至2~5。

17.根据权利要求16所述的用于IC铜阻挡层CMP的抛光组合物的制备方法,其特征在于,所述pH调节剂为柠檬酸或稀硝酸。

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