[发明专利]一种用于IC铜阻挡层CMP的抛光组合物及其制备方法在审
申请号: | 202011055094.4 | 申请日: | 2020-09-30 |
公开(公告)号: | CN112175525A | 公开(公告)日: | 2021-01-05 |
发明(设计)人: | 宋伟红;蔡庆东 | 申请(专利权)人: | 常州时创新材料有限公司 |
主分类号: | C09G1/02 | 分类号: | C09G1/02;H01L21/768 |
代理公司: | 苏州曼博专利代理事务所(普通合伙) 32436 | 代理人: | 宋俊华 |
地址: | 213300 江苏省常*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 ic 阻挡 cmp 抛光 组合 及其 制备 方法 | ||
1.一种用于IC铜阻挡层CMP的抛光组合物,其特征在于,其各组分的质量百分含量为:
分散剂 0.01%~0.5%,
缓蚀剂 0.01%~0.5%,
润湿剂 0.005%~0.5%,
有机溶剂 1%~20%,
氧化剂 0.01%~1%,
磨料 5%~20%,
消泡剂 0.01%~0.1%,
余量为去离子水。
2.根据权利要求1所述的用于IC铜阻挡层CMP的抛光组合物,其特征在于,所述分散剂为氧化石墨烯,比表面为1000-3000m2/g。
3.根据权利要求1所述的用于IC铜阻挡层CMP的抛光组合物,其特征在于,所述缓蚀剂为唑类化合物和植酸或植酸衍生物的混合物。
4.根据权利要求3所述的用于IC铜阻挡层CMP的抛光组合物,其特征在于,所述唑类化合物选自脂环类三唑化合物或芳环类三唑化合物。
5.根据权利要求4所述的用于IC铜阻挡层CMP的抛光组合物,其特征在于,所述脂环类三唑化合物的通式如下:
其中,R1和R2分别为烃基、芳香基、巯基、羧基、氨基或羟基。
6.根据权利要求4所述的用于IC铜阻挡层CMP的抛光组合物,其特征在于,所述芳环类三唑化合物的通式如下:
其中,R1和R2分别为甲基、乙基、羧基、氨基或巯基。
7.根据权利要求1所述的用于IC铜阻挡层CMP的抛光组合物,其特征在于,所述润湿剂为炔二醇聚醚类化合物。
8.根据权利要求1所述的用于IC铜阻挡层CMP的抛光组合物,其特征在于,所述润湿剂为炔二醇聚氧乙烯、炔二醇聚氧丙烯或炔二醇聚氧丙烯聚氧乙烯化物。
9.根据权利要求1所述的用于IC铜阻挡层CMP的抛光组合物,其特征在于,所述润湿剂为2,5,8,11-四甲基-6-十二碳炔-5,8-二醇聚氧乙烯醚。
10.根据权利要求1所述的用于IC铜阻挡层CMP的抛光组合物,其特征在于,所述有机溶剂为二元醇醚类有机溶剂。
11.根据权利要求1所述的用于IC铜阻挡层CMP的抛光组合物,其特征在于,所述有机溶剂选自乙二醇甲醚、乙二醇乙醚、乙二醇丁醚,丙二醇甲醚、丙二醇乙醚、二乙二醇丁醚中的一种或几种。
12.根据权利要求1所述的用于IC铜阻挡层CMP的抛光组合物,其特征在于,所述氧化剂选自过氧化物、过流化物、卤酸、高卤酸类、硝基化合物。
13.根据权利要求1所述的用于IC铜阻挡层CMP的抛光组合物,其特征在于,所述氧化剂选自高氯酸、高氯酸钾、高氯酸钾、氯酸钾、氯酸钠、高碘酸、高碘酸钾、高碘酸钠、碘酸、碘酸钾、过氧化氢、臭氧、过硫酸钾、过硫酸铵、过硫酸钠、硝酸钾、硝酸钠、硝酸铵中的一种或几种。
14.根据权利要求1所述的用于IC铜阻挡层CMP的抛光组合物,其特征在于,所述磨料为二氧化硅,磨料为球形或纺锤形,粒度在10~100nm。
15.根据权利要求1所述的用于IC铜阻挡层CMP的抛光组合物,其特征在于,所述消泡剂为改性的聚硅氧烷消泡剂。
16.权利要求1至15所述用于IC铜阻挡层CMP的抛光组合物的制备方法,其特征在于,将分散剂、缓蚀剂、润湿剂、有机溶剂、氧化剂在搅拌条件下依次加入磨料中,再加入消泡剂,再用pH调节剂将溶液的pH值调至2~5。
17.根据权利要求16所述的用于IC铜阻挡层CMP的抛光组合物的制备方法,其特征在于,所述pH调节剂为柠檬酸或稀硝酸。
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