[发明专利]一种反馈信号检测方法及显示系统

说明书

本发明提供一种反馈信号检测方法及显示系统，系统其包括M列驱动通道；每一列驱动通道包括像素单元和检测单元；检测单元包括源驱动模块和检测模块；源驱动模块包括数模转换器，检测模块包括比较器；数模转换器通过显示信号线连接至像素单元；比较器的第一输入端通过反馈信号线连接至像素单元，用于接收像素单元的反馈信号所对应的反馈电压；其第二输入端连接至参考用数模转换器，用于接收参考用数模转换器输出的比较电压；其输出端用于将反馈电压与比较电压进行比较所得的检测结果输出。本发明的显示系统采用数字域补偿方法，利用数模转换器搭配比较器检测反馈的老化信息，可以对TFT、OLED和QLED等器件做各种检测。

技术领域

本发明涉及光电技术领域，具体涉及一种反馈信号检测方法及显示系统。

背景技术

现有技术中存在多种显示产品，例如AMOLED(有源矩阵有机发光二极体或主动矩阵有机发光二极体，Active-matrix organic light-emitting diode)是采用TFT(薄膜晶体管，Thin Film Transistor)进行像素单元电路陈列并在其上增设OLED(Organic Light-Emitting Diode或Organic Electroluminesence Display，又称有机发光二极管、有机电激光显示或有机发光半导体)的显示屏。

OLED-on-Silicon或者QLED-on-Silicon类型的微显示产品是用硅做像素单元电路陈列，并在其上增设OLED或者QLED(量子点发光二极管T1，Quantum Dot Light EmittingDiodes)发光器件。

TFT、OLED和QLED等在发光之后都存在老化问题，例如，TFT阈值电压上升导致输入同样的显示信号老化TFT能给出的电流变小。当显示屏开始显示之后，老化TFT的阈值电压或老化OLED的阈值电压会发生飘移。OLED阈值电压上升会导致OLED电流减少。老化OLED的发光效率降低，即同样的输入电流，老化OLED能发出来的光减少。

除了老化问题，TFT、OLED和QLED等还存在阈值电压不均匀的问题，例如在生产过程因为工艺原因会导致阈值电压不平均进而导致显示屏发光不均匀。由于显示屏上像素单元陈列位置的不同，在显示屏发光时由于电流的流动会导致像素单元电源电压不平均，温度的不平均会导致驱动管电流不平均。各个通道源驱动模块的不平均会导致反馈的驱动电流不平均。

除此之外，所有像素系统的显示驱动芯片本身都存在不同驱动通道即驱动电路驱动不均匀的问题。

发明内容

本发明提供一种反馈信号检测方法的显示系统，其包括M列驱动通道；每一列驱动通道包括像素单元和检测单元；检测单元包括源驱动模块和检测模块；源驱动模块包括数模转换器，检测模块包括比较器；数模转换器通过显示信号线连接至像素单元；比较器的第一输入端通过反馈信号线连接至像素单元，用于接收像素单元的反馈信号所对应的反馈电压；其第二输入端连接至参考用数模转换器，用于接收参考用数模转换器输出的比较电压；比较器的输出端用于将反馈电压与比较电压进行比较所得的检测结果输出；其中，M为大于等于1的整数。

本发明还提供一种反馈信号检测方法，包括如下过程：

依次选通第1行至第N行像素单元的写入通道并在每一行像素单元的写入通道被选通时进行检测操作；

重复上述操作，再次选通第1行至第N行像素单元的写入通道并在每一行像素单元的写入通道被选通时进行检测操作；

检测操作的过程为：当第n行像素单元的写入通道被选通时，控制像素单元产生反馈信号以及控制参考用数模转换器输出比较电压，使得比较器的第一输入端接收反馈信号对应的反馈电压，并使得比较器的第二输入端接收比较电压；将反馈电压和比较电压进行比较；控制比较器将比较所得的检测结果通过移出电路反馈至老化信息记忆体。