[发明专利]一种保持时间违例修复方法、系统、设备及存储介质有效
申请号: | 202011036592.4 | 申请日: | 2020-09-25 |
公开(公告)号: | CN112232005B | 公开(公告)日: | 2023-03-28 |
发明(设计)人: | 高永亮;邱进超 | 申请(专利权)人: | 山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司 |
主分类号: | G06F30/3312 | 分类号: | G06F30/3312;G06F30/3315 |
代理公司: | 济南诚智商标专利事务所有限公司 37105 | 代理人: | 李修杰 |
地址: | 250101 山东省济南市中国(山东)自由贸*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 保持 时间 违例 修复 方法 系统 设备 存储 介质 | ||
1.一种保持时间违例修复方法,其特征在于,包括:
通过时序分析找出电路中所有存在保持时间违例的路径,获取所述路径的终止点的建立时间裕量;
计算路径的建立时间裕量和保持时间违例的比值,根据预定义规则将路径分为第一类路径和第二类路径;
所述预定义规则需要通过对芯片制造厂商工艺库进行分析获得,选取合适的建立时间裕量和保持时间违例比值的区间分界点,满足既能够保证不影响整个芯片的工作频率,又能够把芯片的功耗控制到最低;
使用第一类工艺标准单元迭代修复第一类路径的保持时间违例;
使用第二类工艺标准单元迭代修复第二类路径的保持时间违例;
所述第一类工艺的电压阈值高于第二类工艺;
所述第一类工艺为高阈值电压工艺或标准阈值电压工艺;
所述使用第一类工艺标准单元迭代修复第一类路径的保持时间违例,包括:
31)使用第一类工艺标准单元修复第一类路径的保持时间违例;
32)计算剩余未修复路径的建立时间裕量和保持时间违例的比值,根据预定义规则重新划分路径分类;
33)判断剩余未修复路径中是否存在第一类路径,若存在,重复步骤31);
所述第二类工艺为低阈值电压工艺或超低阈值电压工艺;
所述使用第二类工艺标准单元迭代修复第二类路径的保持时间违例,包括:
41)使用第二类工艺标准单元修复第二类路径的保持时间违例;
42)判断是否存在未修复路径,若存在,重复步骤41)。
2.根据权利要求1所述的保持时间违例修复方法,其特征在于,所述计算路径的建立时间裕量和保持时间违例的比值,根据预定义规则将路径分为第一类路径和第二类路径,包括:
当路径的建立时间裕量和保持时间违例的比值的绝对值大于1.5且小于3,且建立时间裕量大于15ps时,该路径为第二类路径,否则,该路径为第一类路径。
3.根据权利要求1所述的保持时间违例修复方法,其特征在于,所述时序分析采用Prime Time工具。
4.一种保持时间违例修复系统,其特征在于,包括:
违例路径获取模块,用于通过时序分析找出电路中所有存在保持时间违例的路径,获取所述路径的终止点的建立时间裕量;
路径分类模块,用于计算路径的建立时间裕量和保持时间违例的比值,根据预定义规则将路径分为第一类路径和第二类路径;
所述预定义规则需要通过对芯片制造厂商工艺库进行分析获得,选取合适的建立时间裕量和保持时间违例比值的区间分界点,满足既能够保证不影响整个芯片的工作频率,又能够把芯片的功耗控制到最低;
第一类路径修复模块,用于使用第一类工艺标准单元迭代修复第一类路径的保持时间违例;
所述第一类工艺为高阈值电压工艺或标准阈值电压工艺;
所述使用第一类工艺标准单元迭代修复第一类路径的保持时间违例,包括:
31)使用第一类工艺标准单元修复第一类路径的保持时间违例;
32)计算剩余未修复路径的建立时间裕量和保持时间违例的比值,根据预定义规则重新划分路径分类;
33)判断剩余未修复路径中是否存在第一类路径,若存在,重复步骤31);
第二类路径修复模块,用于使用第二类工艺标准单元迭代修复第二类路径的保持时间违例;
所述第二类工艺为低阈值电压工艺或超低阈值电压工艺;
所述使用第二类工艺标准单元迭代修复第二类路径的保持时间违例,包括:
41)使用第二类工艺标准单元修复第二类路径的保持时间违例;
42)判断是否存在未修复路径,若存在,重复步骤41);
所述第一类工艺的电压阈值高于第二类工艺。
5.一种保持时间违例修复的设备,其特征在于,包括:
存储器,用于存储计算机程序;
处理器,用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至3任一项所述保持时间违例修复的方法的步骤。
6.一种存储介质,其特征在于,所述存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至3任一项所述保持时间违例修复的方法的步骤。
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