[发明专利]一种APF过采样方法、系统和存储介质

权利要求书

1.一种APF过采样方法，其特征在于：设APF的开关频率为f_k，对APF的模拟量的采样频率为f_s，对APF的控制算法的计算频率为f_c，使采样频率f_s为计算频率f_c和开关频率f_k的最小公倍数：

f_s＝[f_c，f_k]，

实现对APF的模拟量采集的过采样。

2.根据权利要求1所述的一种APF过采样方法，其特征在于：包括以下步骤：

S1：采用带ADC转换器的控制器对APF的模拟量的进行采样，设ADC转换器的通道倍频系数为M，使一个模拟量经过一次采样得到M个采样结果；

S2：对一个模拟量在一次采样中得到的M个采样结果进行均值化处理，得到该模拟量在本次采样的采样值；

S3：设ADC转换器的采样次数倍数为N，在一个计算周期内进行N次模拟量采样，得到N个采样值；

S4：输出模拟量的N个采样值的均值并进行滤波处理；

S5：采样频率f_s为计算频率f_c的MN倍，f_s＝MNf_c；选择合适的M、N的值使f_s为f_c和f_k的公倍数，实现对APF的模拟量采集的过采样。

3.根据权利要求2所述的一种APF过采样方法，其特征在于：所述的步骤S1中，具体步骤为：设控制器的自带3个ADC转换器，一个ADC转换器的通道数为16个；设APF需要采样的15个模拟量分别为A_n，B_n，C_n(n＝1，2，3，4，5)；则一个ADC转换器对5个模拟量采样，在一个采样周期中对每个模拟量采样3次，ADC转换器的通道倍频系数为M＝3；则通道倍频后的采样频率f_s2＝3f_s1＝3f_c。

4.根据权利要求2所述的一种APF过采样方法，其特征在于：所述的步骤S2中，具体步骤为：

S21：模拟量A_n经过第x次采样得到M个采样结果V_An1～V_AnM，将M个采样结果进行平均处理得到模拟量A_n在第x次采样的采样值为

S22：模拟量B_n经过第x次采样得到M个采样结果V_Bn1～V_BnM，将M个采样结果进行平均处理得到模拟量B_n在第x次采样的采样值为

S23：模拟量C_n经过第x次采样得到M个采样结果V_Cn1～V_CnM，将M个采样结果进行平均处理得到模拟量C_n在第x次采样的采样值为

5.根据权利要求4所述的一种APF过采样方法，其特征在于：所述的步骤S4中，具体步骤为：

S41：令x＝1，2，…，N，对模拟量A_n第一次采样得到的采样值为…，第N次采样得到的采样值为则通过平均法计算模拟量A_n的采样值V_An为：

S42：对模拟量B_n第一次采样得到的采样值为…，第N次采样得到的采样值为则通过平均法计算模拟量B_n的采样值V_Bn为：

S43：对模拟量C_n第一次采样得到的采样值为…，第N次采样得到的采样值为则通过平均法计算模拟量C_n的采样值V_Cn为：