[发明专利]一种基于UVM的RFID标签芯片验证装置

说明书

本发明装置是一种基于UVM的RFID标签芯片验证装置，包括静态组件：虚拟接口模块、调用run_test()方法、时钟生成模块、RFID标签的DUT和EEPROM模块。动态组件包括base_test模块、my_case模块、ENV模块、CONFIGURATION模块、agent模块、scoreboard模块、reference模块、driver模块和monitor模块。本发明采用UVM的方法学，使得验证效率更高、层次清晰，通过产生不同的测试用例和大量随机化测试，提高了验证的效率和可信程度。

技术领域

本发明属于芯片验证领域。尤其涉及标签芯片的数字系统验证方法。

背景技术

随着高频或超高频RFID标签芯片数字系统模块功能复杂，协议实现和验证难度加大，验证工作成为标签芯片设计中的一个重要环节。

传统的验证方法需要大量的定向激励，人为检测波形验证，导致验证效率低下。本发明基于UVM(Universal Verification Methodology)方法学搭建了一种全新的标签芯片数字验证系统，完成了对标签芯片的RTL功能验证，有效解决了传统验证方法的许多弊端。

发明内容

图2为基于UVM的RFID标签芯片验证树状架构图，按照大类可以分成静态组件和动态组件：

所述静态组件包括调用run_test()方法、虚拟接口模块、时钟生成模块、RFID标签的DUT和EEPROM存储器模块。

进一步，所述初始块中调用run_test()方法，是整个验证装置的入口。它是uvm_root中的函数。运行仿真命令时，通过UVM_TESTNAME＝“test_name”来执行该测试用例。本发明中，使用统一的测试用例名字my_case，每一个不同的测试用例文件夹中产生同样的文件my_case.sv。每次运行测试环境时，把每一个不同的测试用例拷贝到固定目录下，就可以用同一套测试脚本来运行测试装置了。

进一步，所述虚拟接口模块包含DUT与验证装置连接的所有信号。包括解调数据、调制数据、解调使能，调制使能、时钟、复位等信号。由于静态组件和动态组件之间不能直接通信，因此需要虚拟接口模块来实现测试装置(动态组件)与DUT(静态组件)的通信。它相对各个模块是独立的，因此降低了模块接口频繁改动带给它的影响。

进一步，所述时钟生成模块用于生成RFID系统中所用的一系列时钟信号，并连接到虚拟接口模块中。静态模块中的DUT、动态模块的驱动器和输入监控模块都通过虚拟时钟模块与时钟信号相连。

进一步，所述RFID标签的DUT就是标签设计模块，为验证模块待测模块。本发明中，DUT的所有输入和输出信号都连接至虚拟接口模块中，通过虚拟接口模块，再将DUT的输入解调信号与驱动器(driver)的输出信号相连，DUT的输出调制信号与输入监测(monitor)模块相连。

进一步，所述EEPROM模块，存储各类DUT上电时需要得到的配置信息、下电时需要记录的信息以及在读写命令中的数据操作。该EEPROM模块模拟实际EEPROM的擦写和读行为，与DUT进行数据交互。

所述动态组件是验证系统的关键组成部分，包括base_test模块、my_case模块、ENV模块、CONFIGURATION模块、agent模块、scoreboard模块、reference模块、driver模块和monitor模块。

进一步，所述base_test模块派生自uvm_test。被静态组件run_test调用。它包含了ENV和CONFIGURATION模块。同时用uvm_config_db的配置方式把CONFIGURATION模块中的所有配置参数传入至agent中。