[发明专利]GIS设备气体泄漏的判断方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种GIS设备气体泄漏的判断方法，所述GIS设备包括若干GIS套管，每一GIS套管内存储有SF6气体，其特征在于，所述判断方法包括下述步骤：

获取第一预设时间段内每一GIS套管每天的表面加权平均温度值及所述表面加权平均温度值对应的SF6气体的压力值，形成每一GIS套管的表面加权平均温度值与压力值的基础曲线数据；

获取每一GIS套管在每天的若干特设时间点的实际数据；

根据每一GIS套管的实际数据及所述基础曲线数据计算每一GIS套管内每天的压力变化率参数、若干GIS套管的平均变化率参数、每一GIS套管的偏离率；

当在第二预设时间段内每天的GIS套管偏离率均大于预设参数值时判断对应的GIS套管内SF6气体泄漏，所述第二预设时间段小于所述第一预设时间段；所述获取第一预设时间段内每一GIS套管每天的表面加权平均温度值及所述表面加权平均温度值对应的SF6气体的压力值，形成每一GIS套管的表面加权平均温度值与压力值的基础曲线数据具体包括以下步骤：

获取第一预设时间段内每一GIS套管在每天的若干预设时间点的表面温度矩阵及对应的SF6气体的压力值；

根据所述表面温度矩阵计算出表面温度值，以获得所述表面温度矩阵内的表面最高温度值t_max及表面最小温度值t_min；

计算在所述第一预设时间段内每一GIS套管每天的若干预设时间点的所有表面温度值小于等于第一预设温度值且大于等于第二预设温度值的表面温度值之和为T_all，同时记录大于或等于所述预设温度值的表面温度值的数量为N，所述第一预设温度值为：(t_min+(t_max-t_min)×0.8)，所述第二预设温度值为：(t_min+(t_max-t_min)×0.2)；

计算每一GIS套管每天的表面加权平均温度值T_ave，T_ave＝T_all/N；及

根据每一GIS套管每天的表面加权平均温度值及所述SF6气体的压力值形成对应的GIS套管的表面加权平均温度值与压力值的基础曲线数据；

所述获取每一GIS套管在每天的若干特设时间点的实际数据具体包括以下步骤：

获取每一GIS套管在每天的第一特设时间点的表面最高温度值T_x1及对应的SF6气体的压力值P_v3，在每天的第二特设时间点的表面最高温度值T_x2及对应的SF6气体的压力值P_v4，所述第一特设时间点与所述第二特设时间点不重复；及

根据所述基础曲线数据读取所述第一特设时间点的表面最高温度值T_x1对应的压力值P_y1及所述第二特设时间点的表面最高温度T_x2对应的压力值P_y2；

所述根据每一GIS套管的实际数据及所述基础曲线数据计算每一GIS套管内每天的压力变化率参数、若干GIS套管的平均变化率参数、每一GIS套管的偏离率具体包括以下步骤：

计算每一GIS套管的压力变化率参数W_n，

W_n＝(P_y2-P_y4)/P_y2*500+(P_y1-P_y3)/P_y1*500；

计算所述若干GIS套管的平均变化率W_ave＝∑W_n/n；

计算每一GIS套管的偏离率为：(W_n-W_ave)/W_ave。