[发明专利]一种基于FPGA的FPGA筛选测试系统及方法

权利要求书

1.一种基于FPGA的FPGA筛选测试系统，其特征在于：其包括主控FPGA系统和被测FPGA系统；

主控FPGA系统包括：主控FPGA、FLASH存储芯片、电源芯片、晶体振荡器、复位按键、拨码开关、测试状态指示灯；电源芯片与外接电源连接，将5V或12V直流电压转换为主控FPGA所需的电压，同时为FLASH存储芯片和晶体振荡器供电；FLASH存储芯片用于存储主控FPGA的配置信息；晶体振荡器和复位按键产生电路运行所需的时钟信号和复位信号；

被测FPGA系统包括：被测FPGA、FLASH存储芯片、电源芯片和配置状态指示灯；电源芯片为FLASH存储芯片和被测FPGA供电；FLASH存储芯片用于存储被测FPGA的配置信息；

主控FPGA内部同时运行被测电路，用以产生被测电路的预期输出结果，通过比较主控FPGA运行得到的预期输出结果和被测FPGA的测试输出结果，判断被测FPGA是否运行正确，并将结果进行输出；

主控FPGA内部存储多套不同的测试电路，以及与其配套的测试激励数据产生程序和比对程序，通过拨码开关进行选择，在主控FPGA读取拨码开关的状态后，控制被测FPGA系统中的FLASH存储芯片，使其输出相应的被测电路配置文件，完成对被测FPGA的配置。

2.根据权利要求1所述的基于FPGA的FPGA筛选测试系统，其特征在于：所述主控FPGA对被测FPGA进行测试激励数据的输入和测试输出数据的抓取；同时由主控FPGA产生被测电路所需的测试激励。

3.根据权利要求2所述的基于FPGA的FPGA筛选测试系统，其特征在于：所述主控FPGA选用已完成全面测试的FPGA良品，且逻辑资源规模和USER IO数量大于被测FPGA。

4.根据权利要求3所述的基于FPGA的FPGA筛选测试系统，其特征在于：所述被测FPGA通过测试座与测试系统连接。

5.一种基于FPGA的FPGA筛选测试方法，其特征在于：其包括以下步骤：

(1)进行被测芯片的被测电路设计，被测电路应充分利用被测FPGA内部的逻辑资源；

(2)依据被测电路，设计测试激励产生电路和测试结果比对方法；

(3)通过与主控FPGA和被测FPGA配套的EDA软件分别运行产生被测FPGA的配置文件，并将其存储到各自的FLASH存储芯片中；

其中，主控FPGA内部的筛选测试电路包括：测试激励产生模块、被测电路和比对模块；被测FPGA内部只包含被测电路，通过在主控FPGA内部运行被测电路，产生被测电路的预期输出结果。

6.根据权利要求5所述的基于FPGA的FPGA筛选测试方法，其特征在于：所述拨码开关包含有4个0/1拨码开关，产生16种输出组合，在主控FPGA读取拨码开关的状态后，跳转至相应的测试状态；与此同时，主控FPGA向被测FPGA系统中的FLASH存储芯片输入特定的地址起始信息，使其输出相应的被测电路配置文件，完成对被测FPGA的配置。

7.根据权利要求6所述的基于FPGA的FPGA筛选测试方法，其特征在于：通过主控FPGA内部的比对模块比较主控FPGA运行得到的预期输出结果和被测FPGA的测试输出结果是否一致，进而判断被测FPGA是否运行正确，并将结果通过主控FPGA系统中的测试状态指示灯进行输出，完成对被测FPGA的测试。