[发明专利]一种5G模块产品GPIO口测试电路及测试方法有效

专利信息
申请号: 202010864437.5 申请日: 2020-08-25
公开(公告)号: CN111983437B 公开(公告)日: 2023-09-08
发明(设计)人: 程明军 申请(专利权)人: 深圳市旗开电子有限公司
主分类号: G01R31/317 分类号: G01R31/317;G01R31/3183;G01R31/319;G01R31/68;G01R31/54
代理公司: 深圳市海顺达知识产权代理有限公司 44831 代理人: 俞米昌
地址: 518000 广东省深圳市南山区粤海*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 模块 产品 gpio 测试 电路 方法
【说明书】:

发明提供一种5G模块产品GPIO口测试电路及测试方法,属于5G模块测试领域。本发明待测的5G模块产品设有自检程序、分别由自检程序控制的第一测试引脚和第二测试引脚,所述5G模块产品GPIO口测试电路包括第一开关模块、第二开关模块,所述第一开关模块的控制端与第一测试引脚相连,所述第一开关模块的一端与电源相连,另一端与第二开关模块的一端相连,第二开关模块的另一端接电源地,所述第二开关模块的控制器与第二测试引脚相连,所述5G模块产品的所有GPIO口并接在第一开关模块和第二开关模块之间。本发明的有益效果为:测试效率极高;测试效果好,功能覆盖完整。

技术领域

本发明涉及5G模块测试技术,尤其涉及一种5G模块产品GPIO口测试电路及测试方法。

背景技术

由于5G智能通用模块项目模块引脚多,模块尺寸大,一旦客户生产贴到产品上后发现模块不良就很难拆卸维修,因而必须保证模块出厂状态各个功能引脚功能正常。

然后模块上带有多达30多个GPIO口,无法采用传统的用测试引脚功能的方式判断模块引脚正常的方式进行生产测试,故而采用传统测试方式一一测试,实现困难,测试效率非常低。

发明内容

为解决现有技术中5G模块GPIO口不方便测试的问题,本发明提供一种5G模块产品GPIO口测试电路,还提供一种基于所述5G模块产品GPIO口测试电路的测试方法。

本发明待测的5G模块产品设有自检程序、分别由自检程序控制的第一测试引脚和第二测试引脚,所述5G模块产品GPIO口测试电路包括第一开关模块、第二开关模块,所述第一开关模块的控制端与第一测试引脚相连,所述第一开关模块的一端与电源相连,另一端与第二开关模块的一端相连,第二开关模块的另一端接电源地,所述第二开关模块的控制器与第二测试引脚相连,所述5G模块产品的所有GPIO口并接在第一开关模块和第二开关模块之间。

本发明作进一步改进,还包括测试指示模块,所述5G模块产品设有用于自检程序输出测试结果的测试指示引脚,所述测试指示模块的输入端与指示引脚相连。

本发明作进一步改进,所述测试指示模块为指示灯或声音报警器。

本发明作进一步改进,所述测试指示模块为LED灯,所述测试指示模块还包括与LED灯串联的限流单元。

本发明作进一步改进,还包括滤波模块,所述滤波模块设置在所有GPIO口的并接端。

本发明作进一步改进,所述5G模块产品用能够检测5G模块产品GPIO口高低电平的单片机替代,所述第一测试引脚、第二测试引脚均设置在单片机上,所述单片机还分别与待测的5G模块产品的所有GPIO口相连。

本发明还提供一种基于所述5G模块产品GPIO口测试电路的测试方法,包括初始步骤:5G模块产品上电后处于初始状态:所有GPIO口置输入状态;

GPIO口的输入功能测试步骤:控制第一测试引脚输出高电平,第二测试引脚输出低电平,则第一开关模块导通,第二开关模块截止,此时电源电压加到5G模块产品所有被测GPIO口,自检程序轮询一遍所有GPIO状态,判断是否为高电平,如果是,则该GPIO口正常,如果否,则对应的GPIO口异常;

GPIO口的输出功能测试步骤:控制第一测试引脚为低电平,第二测试引脚为高电平,则第一开关模块截止,第二开关模块导通,自检程序轮询一遍所有GPIO状态,判断是否为低电平,如果是,则该GPIO口正常,如果否,则对应的GPIO口异常。

本发明作进一步改进,还包括测试结果指示步骤:当自检程序自检过程中,GPIO口异常时,控制测试指示模块指示自检失败,停止自检。

本发明作进一步改进,当GPIO口的输入功能测试步骤和GPIO口的输出功能测试步骤中,所有GPIO口均正常时,所述5G模块产品系统正常开机,系统将自检通过结果记录于数据结构中。

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