[发明专利]一种低温环境样本取样保存用组装探管

说明书

本发明公开了一种低温环境样本取样保存用组装探管，包括探管头，所述探管头顶部上方固定连接有外观安装座，所述外观安装座外侧上方安装有取样外管，所述取样外管顶部设置有对接顶座，所述对接顶座顶部设置有安装卡位座，所述取样外管外侧设置有钻孔螺旋刀，所述探管头内侧设置有主体探管，所述主体探管底部设置有钻头，所述钻头边侧设置有钻头边侧刀板，本发明涉及低温环境采样技术领域。该低温环境样本取样保存用组装探管，解决了样品取样会破坏样本的初始状态，后期取出不方便，低温环境容易损坏，维修困难的问题，样本进入取样管的速度也会增加，还可以保护最中心的样本完整性，适应恶劣的环境工作效果强。

技术领域

本发明涉及低温环境采样技术领域，具体为一种低温环境样本取样保存用组装探管。

背景技术

对产品进行检测时需要对样品进行取样，对于低温固态样品取样时，为了方便取样操作，通常会采用加热或直接击打的方式，使样品融化或敲碎，由于加热或击打过程中，部分样品会被损坏，不能得到完整的样品，使的检测效果受到直接影响。

例如在专利号为CN201710557208.7的中国专利所公开的一种低温固态样品取样设备，通过电机带动外管与内管同步转动的过程中，使外管和内管下端的穿刺部转动过程中逐渐贯穿样品，特别适用于低温的冰块或土壤等取样操作；又例如在专利号为CN201510172579.4的的中国专利所公开的一种煤层低温取样装置及方法，实现了低温密封取煤样，能够减少取样过程中瓦斯的损失量，提高了煤层瓦斯含量测定的准备性。

现有的样品取样装置采用普通钻头探管，虽然取出管状样品，但是由于钻头在工作的时候会产生大量的热会破坏样本的初始状态，并且后期取出不方便，整体结构一体成型，在低温环境容易损坏，维修困难。

发明内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足，本发明提供了一种低温环境样本取样保存用组装探管，解决了样品取样会破坏样本的初始状态，后期取出不方便，低温环境容易损坏，维修困难的问题。

(二)技术方案

为实现以上目的，本发明通过以下技术方案予以实现：一种低温环境样本取样保存用组装探管，包括探管头，所述探管头顶部上方固定连接有外观安装座，所述外观安装座外侧上方安装有取样外管，所述取样外管顶部设置有对接顶座，所述对接顶座顶部设置有安装卡位座，所述取样外管外侧设置有钻孔螺旋刀，所述探管头内侧设置有主体探管，所述主体探管底部设置有钻头，所述钻头边侧设置有钻头边侧刀板，所述钻头边侧刀板底端与探管头底部固定连接，所述钻头底部设置有探管钻头，专用的钻头配合钻头边侧刀板可以更更加迅速的钻入地面之下，整体探管转动插入取样速度更快，所述探管钻头内部开设有样品进料口，探管钻头边侧开设有采样钻头槽可以加速取样，样本进入取样管的速度也会增加，还可以保护最中心的样本完整性，所述主体探管内部设置有样品管，所述外观安装座内侧顶部固定连接有降温套环，所述降温套环上方设置有反应管座，所述反应管座顶部安装有降温反应管，所述降温反应管顶部设置有反应管顶部套管，所述反应管顶部套管顶部设置有换热管，采用多结构对接安装的方式组装而成，使得后期检修方便，整体装置损坏更换简单，适应恶劣的环境工作效果强。

进一步的，所述降温套环内部设置有半导体制冷片，所述样品管位于半导体制冷片内侧，内部降温装置会在探管启动后持续降温，反应管配合换热器可以保证半导体制冷器工作效率提高，换热效率增大，从而保证样本完成存放在低温下。

进一步的，所述降温套环与反应管座之间设置有换热器，所述换热器内部设置有换热板。

进一步的，所述降温反应管设置为螺旋形，所述降温反应管设置有-根，所述降温反应管内部填充有氯化铵和氢氧化钡反应物。