[发明专利]一种开关接点性能检测系统

说明书

本发明涉及一种开关接点性能检测系统，包括：用于连接被测接点的公共端的第一连接端；用于连接被测接点的静触点的第二连接端；分别连接第一连接端和第二连接端以形成回路的供电单元；与被测接点的动触点配合设置、驱动被测接点的动触点动作以使被测接点被触发的驱动单元；连接第一连接端和第二连接端、用于监测被测接点的电信号以生成对应测试波形的监测单元；连接监测单元、用于根据测试波形对被测接点的接点性能进行判断的处理器。实施本发明能够有效的实现开关接点的性能检测，以保证使用安全，避免安全事故的发生。

技术领域

本发明涉及开关测试技术领域，更具体地说，涉及一种开关接点性能检测系统。

背景技术

当前，在大型的机电组使用现场，常常定期对其中发生老化有潜在风险的器件进行替换。而其中的接触器开关作为使用频率高老化严重的器件，其更换更加频繁。其在进行新器件更换时，部分新器件作为备用器件其可能由于时间的问题会出现质量问题，而无法在进行更换之前识别，导致更换后在使用过程中出现问题而使得现场的机电组无法正常工作或产生重大事故。尤其是一些接触器开关其使用的数量和场景尤其多，对其性能有着严格的要求。

发明内容

本发明要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述部分技术缺陷，提供一种开关接点性能检测系统。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：构造一种开关接点性能检测系统，包括：用于连接被测接点的公共端的第一连接端；用于连接所述被测接点的静触点的第二连接端；分别连接所述第一连接端和所述第二连接端以形成回路的供电单元；

与所述被测接点的动触点配合设置、驱动所述被测接点的动触点动作以使所述被测接点被触发的驱动单元；

连接所述第一连接端和所述第二连接端、用于监测所述被测接点的电信号以生成对应测试波形的监测单元；

连接所述监测单元、用于根据所述测试波形对所述被测接点的接点性能进行判断的处理器。

优选地，所述处理器连接所述驱动单元以获取所述驱动单元的驱动周期，

所述处理器根据所述测试波形对所述被测接点的接点性能进行判断的过程包括：

获取所述测试波形的实时波形周期，判断所述实时波形周期是否满足所述驱动周期，并在所述实时波形周期不满足所述驱动周期时判定所述被测接点的接点性能异常。

优选地，所述判断所述实时波形周期是否满足所述驱动周期，包括：所述实时波形周期是否在0.5到1.5倍的所述驱动周期范围内。

优选地，所述在所述实时波形周期不满足所述驱动周期时判定所述被测接点的接点性能异常，包括：在所述实时波形周期不满足所述驱动周期时判定所述被测接点已发生卡涩故障。

优选地，所述处理器根据所述测试波形对所述被测接点的接点性能进行判断的过程还包括：

获取所述测试波形的脉冲上升时间，以判断所述脉冲上升时间是否满足预设条件，并在所述脉冲上升时间不满足所述预设条件时判定所述被测接点的接点性能异常。

优选地，所述在所述脉冲上升时间不满足所述预设条件时判定所述被测接点的接点性能异常，包括：比较所述脉冲上升时间与一基准时间，在所述脉冲上升时间不满足所述基准时间的范围要求时判定所述被测接点的存在发生卡涩故障的风险。

优选地，所述脉冲上升时间不满足所述基准时间的范围要求包括：所述脉冲上升时间超出1.05倍的所述基准时间。

优选地，所述开关接点性能检测系统还包括：设置于所述回路、用于在所述被测接点的动触点由第一状态切换为第二状态时触发一次计数的计数单元；所述处理器连接所述计数单元以获取所述计数单元的实时计数；

所述处理器根据所述测试波形对所述被测接点的接点性能进行判断的过程还包括：