[发明专利]一种存储设备高可靠性测试的方法和设备

说明书

本发明提供了一种存储设备高可靠性测试的方法和设备，该方法包括：搭建存储环境和主机的网络拓扑，并验证存储环境中IOPS是否稳定和主机输出IO是否正常；响应于存储环境中IOPS稳定且主机输出IO正常，获取存储环境和主机的特定参数；基于获取到的特定参数绘制第一性能曲线图；去除存储环境中的部分控制器的连接，并再次获取存储环境和主机的特定参数；基于再次获取的特定参数绘制第二性能曲线图，并将第二性能曲线图与第一性能曲线图进行对比；响应于第二性能曲线图与第一性能曲线图的波动一致，判断存储设备具有高可靠性。通过使用本发明的方案，能够验证多控存储的高可用性，验证存储异常时主机IO业务的连续，能够提升产品在市场的竞争力和商业价值。

技术领域

本领域涉及计算机领域，并且更具体地涉及一种存储设备高可靠性测试的方法和设备。

背景技术

在新基建大趋势下，存储设备重要性日益显著。而在日常实际生产过程中，会遇到无法预知的情况，比如：网络故障、停电、设备老化、操作失误等等，这些如果处理不当经会导致不可预估的灾难。对于存储而言，多控制器中异常其中几个，还要能保证业务连续不受影响是很困难的，测试过程中获取每个控制器的状态、关键部件状态和IO(输入输出)状态等获取是很麻烦的。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例的目的在于提出一种存储设备高可靠性测试的方法和设备，通过使用本发明的方法，能够验证多控存储的高可用性，验证存储异常时主机IO业务的连续性，验证多控存储异常修复后的IO业务连续性，能够提升产品在市场的竞争力和商业价值。

基于上述目的，本发明的实施例的一个方面提供了一种存储设备高可靠性测试的方法，包括以下步骤：

搭建存储环境和主机的网络拓扑，并验证存储环境中IOPS(没秒读写次数)是否稳定和主机输出IO是否正常；

响应于存储环境中IOPS稳定且主机输出IO正常，获取存储环境和主机的特定参数；

基于获取到的特定参数绘制第一性能曲线图；

去除存储环境中的部分控制器的连接，并再次获取存储环境和主机的特定参数；

基于再次获取的特定参数绘制第二性能曲线图，并将第二性能曲线图与第一性能曲线图进行对比；

响应于第二性能曲线图与第一性能曲线图的波动一致，判断存储设备具有高可靠性。

根据本发明的一个实施例，还包括：

观察主机输出IO情况是否异常；

响应于主机输出IO在3至5秒内为0后输出IO恢复正常，判断存储设备具有高可靠性。

根据本发明的一个实施例，还包括：

将去除的部分控制器重新连接到存储环境，并重新获得存储环境和主机的特定参数；

基于重新获得的特定参数绘制第三性能曲线图，并将第三性能曲线图与第一性能曲线图进行对比；

响应于第三性能曲线图与第一性能曲线图的波动一致，判断存储设备具有高可靠性。

根据本发明的一个实施例，存储环境为多控存储集群，多控存储集群包括4个控制器。

根据本发明的一个实施例，特定参数包括IOPS、MBPS(兆比特每秒)和延时数值。

根据本发明的一个实施例，响应于存储环境中IOPS稳定且主机输出IO正常，获取存储环境和主机的特定参数包括：

基于配置的主机IP、用户名、密码和存储环境节点IP以及集群用户名、密码建立与主机和存储环境的网络链接；