[发明专利]一种相控阵天线数据验证的方法

说明书

本申请实施例公开了一种相控阵天线数据验证的方法，该种方法包括：S1、数据读取：校对系统自相控阵波束控制系统中分段读取待校准数据，并暂存为校准数据段；S2、数据比对：所述校对系统在原始数据中提取与读取到的所述校准数据段相对应的原始数据段，将所述原始数据段与所述校准数据段进行比对，并对不一致的比对结果进行记录；S3、重复所述S1和所述S2，直至所有的所述待校准数据分别与所述原始数据中的数据逐一比对验证后，输出验证结果。本申请的相控阵天线数据验证的方法，数据验证速度快、可靠性高。

技术领域

本申请涉及相控阵天线数据验证技术领域，具体是相控阵天线数据验证的方法。

背景技术

在相控阵波束控制的技术中，为了确保相控阵天线的最终性能，必须对相控阵每个通道进行幅相校准，再将校准数据处理之后集成到控制系统中。

现有技术中一般采用间接判别法判别系统中的数据准确性，即通过测试相控阵天线的最终性能(例如方向图)等，来间接判断相控阵波束控制系统中数据的正确性。但是，采用间接判别法判别相控阵波束控制系统中数据准确性的过程中，由于影响相控阵天线出现最终功能异常的情况的环节较多，排故较为困难，因此，无法直接确定相控阵波束控制系统中的数据是否存在不准确的情况。另一方面，随着相控阵通道数的增加，即使排故后确定是相控阵波束控制系统中的存在不准确数据，在数据校准过程中，需要校准的数据量也随之增加，很难逐一排查，导致最终存入相控阵波束控制系统中进行工作的数据的正确性判定难度增加。因此，亟需一种相控阵天线数据验证的方法来解决这一问题。

发明内容

本发明旨在解决上述技术问题，提供一种相控阵天线数据验证的方法，快速地验证相控阵波束控制系统中待校准数据的正确性，缩小相控阵波束控制系统排故过程中的排查范围，降低排故难度和缩短了排故周期

为实现上述目的，本发明公开了一种相控阵天线数据验证的方法，该种方法包括：S1、数据读取：校对系统自相控阵波束控制系统中分段读取待校准数据，并暂存为校准数据段；S2、数据比对：所述校对系统在原始数据中提取与读取到的所述校准数据段相对应的原始数据段，将所述原始数据段与所述校准数据段进行比对，并对不一致的比对结果进行记录；S3、重复所述S1和所述S2，直至所有的所述待校准数据分别与所述原始数据中的数据逐一比对验证后，输出验证结果。

基于上述方法，校对系统对相控阵波束控制系统中的待校准数据进行分段读取，并在原始数据中提取相对应的原始数据段与之逐一比对验证，在比对过程中，校对系统将校准数据段与原始数据段中数据不一致的数据进行记录，重复多次分段提取、比对、记录，最终输出验证结果。通过分段比对的方式，提高了待校准数据与原始数据比对时的效率，降低了相控阵波束控制系统在数据校准上排故的难度，提高本申请相控阵天线数据验证的方法的可靠性。

优选地，所述S1具体包括：S1-1、数据处理：所述相控阵波束控制系统将所述待校准数据处理为标准格式数据后进行存储；S1-2、计算数据地址：自初始地址起，按照预设分段的字节长度对所述待校准数据和所述原始数据进行地址分段；S1-3、获取所述校准数据段：所述校对系统按照以预设字节长度分段后的地址对所述相控阵波束控制系统中格式处理后的所述待校准数据进行分段读取，获得所述校准数据段；S1-4、数据暂存：所述校对系统对所述分段校准数据进行暂存。

优选地，所述S2具体包括：S2-1、预设原始数据：在所述校对系统中预存与所述待校准数据格式相同的所述原始数据；S2-2、获取所述原始数据段：所述校对系统根据所述预设字节长度，提取所述原始数据中与暂存的所述校准数据段相对应的数据，获得所述原始数据段；S2-3、数据比对：所述校对系统将提取到的所述原始数据段与暂存的所述校准数据段进行逐一比对验证，并记录比对不一致的结果、及结果对应的数据在所述待校准数据中的位置；S2-4、缓存清理：暂存的所述校准数据段比对完成后，所述校对系统清除该段数据。