[发明专利]一种非中心对称晶体的晶畴空间分布及晶格取向的确定方法有效

专利信息
申请号: 202010644337.1 申请日: 2020-07-07
公开(公告)号: CN111855585B 公开(公告)日: 2023-08-15
发明(设计)人: 邢晖;唐国雄;许祝安 申请(专利权)人: 上海交通大学;浙江大学
主分类号: G01N21/21 分类号: G01N21/21
代理公司: 上海伯瑞杰知识产权代理有限公司 31227 代理人: 王一琦
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 中心对称 晶体 空间 分布 晶格 取向 确定 方法
【权利要求书】:

1.一种非中心对称晶体的晶畴空间分布及晶格取向的确定方法,其特征在于:

利用偏振光反射非中心对称晶体的晶畴空间分布进行成像,然后进行解理并确定晶格取向,

在进行解理观察时,将晶体垂直于c方向解理开,得到两个对应的不等价解理面CS1和CS2,把解理后的晶体位置调整至畴壁与偏振光方向平行,观察CS1和CS2解理面对应的同一个区域,CS1、CS2解理面及各自旋转90°后的晶畴呈现出4种不同颜色,依据这4种颜色,可以直接推断出对应区域的晶格取向。

2.根据权利要求1所述的非中心对称晶体的晶畴空间分布及晶格取向的确定方法,其特征在于:

在对晶畴空间分布进行成像时,将被测非中心对称晶体水平放置在落射式显微镜下,保持晶体ab面与入射光垂直,固定起偏器与检偏器的位置,保持起偏器与检偏器垂直,水平旋转调节晶体位置,会看到晶体表面颜色随晶体位置的变化而相应变化,当看到晶体表面有颜色条纹时,不同颜色区域便对应不同的晶畴,条纹的分界线即为畴壁,平行分界线方向和垂直分界线方向分别对应两个晶格主轴方向。

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