[发明专利]一种基于库单元的时钟树健壮度检测方法及装置

说明书

本发明公开了一种基于库单元的时钟树健壮度检测方法及装置，包括：扫描待检测时钟树的工艺库单元，选取满足第一预设条件的特定时钟树单元；扫描特定时钟树单元，检测所有特定时钟树单元是否满足第二预设条件的特定阈值电压单元；在检测到所有特定时钟树单元中存在不满足第二预设条件的特定阈值电压单元时，判断待检测时钟树的健壮度较低；在检测到所有特定时钟树单元均满足第二预设条件的特定阈值电压单元时，判断待检测时钟树的健壮度较高。本发明实施例准确得到时钟树健壮度的检测结果。

技术领域

本发明涉及芯片设计技术领域，尤其是涉及一种基于库单元的时钟树健壮度检测方法及装置。

背景技术

目前集成电路事业蓬勃发展，随着芯片集成度越来越高，芯片面积越来越大，芯片时序收敛也变得越来越有难度。而时序收敛的重中之重时钟树的建立也成为业界重点研究和发展的对象。主要的电子设计自动化工具供应商都针对时钟树发展了很多算法来提升和改进时钟树的质量。但是在不同的工艺和芯片应用方向上，时钟树的建立要求和实现方式还是多种多样的，并且与使用工具的工程师的想法和经验有很大相关性。因此针对时钟树质量的检测显得极为重要。本发明的发明人在研究中发现，现有技术在时钟树建立过程中的相关实现作为依据，来保证时钟树的健壮度，但是由于现有技术在时钟树建立后没有任何的检测机制，导致无法保证检测时钟树的健壮度，造成芯片的时序收敛效率较差。

发明内容

本发明提供一种基于库单元的时钟树健壮度检测方法及装置，以解决现有技术无法保证检测时钟树的健壮度，造成芯片的时序收敛效率较差的技术问题。

本发明的第一实施例提供了一种基于库单元的时钟树健壮度检测方法，包括：

扫描待检测时钟树的工艺库单元，选取满足第一预设条件的特定时钟树单元；

扫描所述特定时钟树单元，检测所有所述特定时钟树单元是否满足第二预设条件的特定阈值电压单元；

在检测到所有所述特定时钟树单元中存在不满足所述第二预设条件的特定阈值电压单元时，判断所述待检测时钟树的健壮度较低；

在检测到所有所述特定时钟树单元均满足所述第二预设条件的特定阈值电压单元时，判断所述待检测时钟树的健壮度较高。

进一步地，在判断所述待检测时钟树的健壮度较低后，将所述不满足所述第二预设条件的特定阈值电压单元更换为同时满足所述第一预设条件和所述第二预设条件的时钟树单元。

进一步地，所述第一预设条件为时钟树单元名称中特定位置为特定样式；所述第二预设条件为时钟树单元名称中特定位置为特定样式。

进一步地，所述第一预设条件为时钟树单元名称中前缀名为CLK*；所述第二预设条件为时钟树单元名称中后缀名为CLK*。

本发明的另一实施例提供了一种基于库单元的时钟树健壮度检测装置，包括：

选取模块，用于扫描待检测时钟树的工艺库单元，选取满足第一预设条件的特定时钟树单元；

检测模块，用于扫描所述特定时钟树单元，检测所有所述特定时钟树单元是否满足第二预设条件的特定阈值电压单元；

第一判断模块，用于在检测到所有所述特定时钟树单元中存在不满足所述第二预设条件的特定阈值电压单元时，判断所述待检测时钟树的健壮度较低；

第二判断模块，用于在检测到所有所述特定时钟树单元均满足所述第二预设条件的特定阈值电压单元时，判断所述待检测时钟树的健壮度较高。

进一步地，所述检测装置还包括：更换模块，用于在判断所述待检测时钟树的健壮度较低后，将所述特定阈值电压单元更换为同时满足所述第一预设条件和所述第二预设条件的时钟树单元。