[发明专利]一种基于电磁场和温度场的器件建模方法

权利要求书

1.一种基于电磁场和温度场的器件建模方法，其特征在于，包括：

步骤S1，在室温下测定第一器件独立工作时的第一温度分布曲线f1，并测定器件独立工作时的输出结果，生成第一输出结果曲线g1；

步骤S2，在室温下，分别测定与所述第一器件距离为di的第i器件工作时的第一器件工作时的温度分布曲线f1i，以及第i输出结果曲线gi，以及第i器件的第i温度分布曲线fi，形成第一器件温度分布函数T(di,f1i,gi),其中，i大于等于2，生成该三维矩阵；生成第i器件的第i温度分布曲线fi的一维矩阵；

步骤S3，设定第一温度分布曲线f1，第一输出结果曲线g1为标准曲线，将上述步骤S2中的第一器件温度分布函数T(di,f1i,gi)中对应的温度分布曲线和输出结果曲线分别与标准曲线进行比对，分别获得单一器件温度误差曲线F1i,以及单一器件输出结果误差曲线G1i，形成单一器件温度场差值矩阵T1(di,f1i,F1i)以及单一器件输出结果误差矩阵T1(di,f1i,G1i)；

步骤S4，根据形成的第一器件温度分布函数T(di,f1i,gi)，以及单一器件温度场差值矩阵T1(di,f1i,F1i)以及单一器件输出结果误差矩阵T1(di,f1i,G1i)，生成多器件温度场矩阵Tn(dn,f1n,g1n)，g1n为多器件输出结果曲线。

2.根据权利要求1所述的基于电磁场和温度场的器件建模方法，其特征在于，

在上述步骤S2中，在室温下，使与所述第一器件距离为d2的第二器件工作，在该环境下测定第一器件工作时的温度分布曲线f12,并测定第一器件工作时的输出结果，生成第二输出结果曲线g2；同时，在室温下测定第二器件的温度分布曲线f2。

3.根据权利要求1所述的基于电磁场和温度场的器件建模方法，其特征在于，在上述步骤S2中，在室温下，使与所述第一器件距离为d3的第三器件工作，在该环境下测定第一器件工作时的温度分布曲线f13,并测定第一器件工作时的输出结果，生成第三输出结果曲线g3；

同时，在室温下测定第三器件的温度分布曲线f3。

4.根据权利要求1所述的基于电磁场和温度场的器件建模方法，其特征在于，在上述步骤S3中，在计算过程中，将其中以第一器件工作时的温度分布曲线f1i与第一温度分布曲线f1至于同一坐标系中，获取在同一时刻的温度差值tj，汇总温度差值tj,形成温度差值曲线F1i，并对i个器件汇总形成单一器件温度场差值矩阵T1(di,f1i,F1i)。

5.根据权利要求4所述的基于电磁场和温度场的器件建模方法，其特征在于，在上述步骤S3中，在计算过程中，将其中以单一器件输出结果误差曲线G1i与第一输出结果曲线g1至于同一坐标系中，获取在同一时刻的结果差值gj，汇总结果差值gj,形成结果差值曲线G1i，并对i个器件汇总形成单一结果差值矩阵T1(di,f1i,G1i)。

6.根据权利要求5所述的基于电磁场和温度场的器件建模方法，其特征在于，在上述步骤S4中，在该过程中，首先计算任一器件的温度因子k,获取上述步骤S4中的第i器件的第i温度分布曲线fi的一维矩阵，根据单一器件温度场差值矩阵T1(di,f1i,F1i)，获取温度因子k,

k＝(|f2-F12|+|f3-F13|+......|fi-F1i|)/(f2+f3+......+fi) (1)。

7.根据权利要求1所述的基于电磁场和温度场的器件建模方法，其特征在于，在上述步骤S4中，在该过程中，根据根据单一器件输出结果误差矩阵T1(di,f1i,G1i)计算输出结果因子z,

z＝(|g11-g1|+|g12-g1|+......+|g1i-g1|)/(ix g1) (2)。

8.根据权利要求6所述的基于电磁场和温度场的器件建模方法，其特征在于，在测量器件工作时，n为器件数量，多器件温度场矩阵Tn(dn,f1n,g1n)中，

f1n＝f1+n x k x f1

g1n＝g1+n x z x g1 (5)。