[发明专利]粒子加速器系统在审

专利信息
申请号: 202010628344.2 申请日: 2020-07-01
公开(公告)号: CN112188720A 公开(公告)日: 2021-01-05
发明(设计)人: 高桥伸明 申请(专利权)人: 住友重机械工业株式会社
主分类号: H05H13/00 分类号: H05H13/00
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 任玉敏
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 粒子 加速器 系统
【权利要求书】:

1.一种粒子加速器系统,其具备:

粒子加速器,加速荷电粒子;

信号源,输出在所述粒子加速器中用于加速荷电粒子的高频功率;

放大部,放大来自所述信号源的高频功率,并供给至所述粒子加速器,该放大部具备使用了半导体的多个半导体放大器;及

控制部,控制所述放大部的动作,

所述控制部控制所述多个半导体放大器中的至少一个的输出。

2.根据权利要求1所述的粒子加速器系统,其中,

所述控制部根据可使用的所述半导体放大器的数量,控制所述多个半导体放大器中的至少一个的输出。

3.根据权利要求1所述的粒子加速器系统,其中,

所述放大部具备:

第1放大部,放大来自所述信号源的高频功率;

第2放大部,具备所述多个半导体放大器;及

分配部,将所述第1放大部的输出分配到所述第2放大部的各所述半导体放大器,

所述控制部根据可使用的所述半导体放大器的数量,控制所述第1放大部中的放大率。

4.根据权利要求1所述的粒子加速器系统,其中,

所述放大部具备:

第1放大部,放大来自所述信号源的高频功率;

第2放大部,具备所述多个半导体放大器;及

分配部,将所述第1放大部的输出分配到所述第2放大部的各所述半导体放大器,

所述控制部根据可使用的所述半导体放大器的数量,控制所述第2放大部的各所述半导体放大器中的放大率。

5.根据权利要求1所述的粒子加速器系统,其还具备:

故障检测部,检测多个所述半导体放大器的故障,

所述控制部根据基于所述故障检测部的检测结果,控制各所述半导体放大器的输出。

6.根据权利要求1所述的粒子加速器系统,其中,

所述放大部具备合成来自各所述半导体放大器的输出的合成器。

7.根据权利要求1所述的粒子加速器系统,其中,

所述粒子加速器为回旋加速器,

所述回旋加速器具有被供给由所述放大部放大的高频功率的腔室,

在所述腔室中设置有检测所述腔室内的电压的电压检测部,

当因存在无法使用的半导体放大器而由所述电压检测部检测的电压下降时,所述控制部以使该电压成为规定的设定值的方式控制各所述半导体放大器的输出。

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