[发明专利]一种PCB外观检测方法及装置在审
| 申请号： | 202010591904.1 | 申请日： | 2020-06-24 |
| 公开（公告）号： | CN111707677A | 公开（公告）日： | 2020-09-25 |
| 发明（设计）人： | 江婷;胡小文 | 申请（专利权）人： | 江西景旺精密电路有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/956 | 分类号： | G01N21/956 |
| 代理公司： | 深圳市精英专利事务所 44242 | 代理人： | 于建 |
| 地址： | 343000 *** | 国省代码： | 江西;36 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 pcb 外观 检测 方法 装置 | ||
1.一种PCB外观检测方法，其特征在于，包括：
接收待测缺陷图片，所述待测缺陷图片是由AVI外观检测机对PCB板进行扫描后得到的，所述待测缺陷图片上标记有缺陷区域；
判断所述缺陷区域是否为假缺陷；
若所述缺陷区域为假缺陷，将所述缺陷区域屏蔽。
2.根据权利要求1所述的PCB外观检测方法，其特征在于，所述判断所述缺陷区域是否为假缺陷，包括：
将所述待测缺陷图片输入到预设的人工智能图像分类软件中，以由所述人工智能图像分类软件对所述缺陷区域进行分类，所述缺陷区域的类别包括真缺陷以及假缺陷；
若所述人工智能图像分类软件将所述缺陷区域归类为假缺陷，则判定所述缺陷区域为假缺陷。
3.根据权利要求2所述的PCB外观检测方法，其特征在于，所述将所述待测缺陷图片输入到预设的人工智能图像分类软件中，以由所述人工智能图像分类软件对所述缺陷区域进行分类之前，所述方法还包括：
对所述人工智能图像分类软件进行训练。
4.根据权利要求1所述的PCB外观检测方法，其特征在于，所述将所述缺陷区域屏蔽，包括：
通过空白图片将所述缺陷区域覆盖。
5.根据权利要求1所述的PCB外观检测方法，其特征在于，所述将所述缺陷区域屏蔽之后，所述方法还包括：
向用户展示屏蔽了假缺陷后的待测缺陷图片。
6.一种PCB外观检测装置，其特征在于，包括：
接收单元，用于接收待测缺陷图片，所述待测缺陷图片是由AVI外观检测机对PCB板进行扫描后得到的，所述待测缺陷图片上标记有缺陷区域；
判断单元，用于判断所述缺陷区域是否为假缺陷；
屏蔽单元，用于若所述缺陷区域为假缺陷，将所述缺陷区域屏蔽。
7.根据权利要求6所述的PCB外观检测装置，其特征在于，所述判断单元包括：
输入单元，用于将所述待测缺陷图片输入到预设的人工智能图像分类软件中，以由所述人工智能图像分类软件对所述缺陷区域进行分类，所述缺陷区域的类别包括真缺陷以及假缺陷；
判定单元，用于若所述人工智能图像分类软件将所述缺陷区域归类为假缺陷，则判定所述缺陷区域为假缺陷。
8.根据权利要求7所述的PCB外观检测装置，其特征在于，所述PCB外观检测装置还包括：
训练单元，用于对所述人工智能图像分类软件进行训练。
9.根据权利要求6所述的PCB外观检测装置，其特征在于，所述屏蔽单元包括：
覆盖单元，用于通过空白图片将所述缺陷区域覆盖。
10.根据权利要求6所述的PCB外观检测装置，其特征在于，所述的PCB外观检测装置还包括：
展示单元，用于向用户展示屏蔽了假缺陷后的待测缺陷图片。
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