[发明专利]一种开关矩阵通道故障诊断方法及系统

说明书

本发明公开了一种开关矩阵通道故障诊断方法及系统，包括：对开关矩阵中待测开关所在通道构建测试通道矩阵；对测试通道矩阵内检测节点进行反射信号测试，通过预设反射信号阈值，判断检测节点是否处于反射状态，并构建测试通道检测节点矩阵；将测试通道检测节点矩阵与正常通道检测节点矩阵进行比较，得到故障点通道；基于频域反射对故障点通道的检测节点定位发生反射信号的位置，即故障点位置。实现多通道的快速检测与故障诊断定位，根据开关矩阵所构建通道的真实物理连接状态的有效检测，解决间接等效方法产生误报的不确定性问题。

技术领域

本发明涉及微波测试技术领域，特别是涉及一种开关矩阵通道故障诊断方法及系统。

背景技术

本部分的陈述仅仅是提供了与本发明相关的背景技术信息，不必然构成在先技术。

随着微波半导体器件(集成电路)及其技术的快速发展，微波半导体器件(集成电路)的集成功能与技术特性获得不断提升，表征其相应功能及技术特性的测试参数越来越多，测试规模也越来越大，相应地，为适应这种需求的开关矩阵类产品在微波半导体器件测试中的应用也越来越广泛。

应用传统方法，开关矩阵(类)产品构建通道时的内部各开关状态检测以及通道故障判定主要依赖于内部各开关需配置的开关状态选件，通常为指示灯或表示状态的高/低电平，以及基于相应通道散射参数测试的人工判断与拆装调测，存在缺少有效技术手段、调测操作过程繁杂且效率低下等问题，不能适应开关矩阵(类)产品的维护保障以及微波半导体器件(集成电路)多参数、高效率测试的相关应用需求和技术要求，需要创新提出或形成与应用需求相适应的快速检测方法与技术。

基于传统方法，开关矩阵(类)产品构建通道时的内部各开关状态检测主要依赖于开关需配置的开关状态选件，通常为指示灯或表示状态的高/低电平；无论是指示灯还是表示状态的高/低电平，其本质都是一种间接等效检测方法，即只检测控制开关导通至其某个端口的控制电平，并默认该电平与开关内部的物理连接状态必然一致。然而在实际应用中，这两者之间存在着不一致的可能情况，即虽然有相应的控制电平，但开关内部的物理连接并未建立，并不能实现对开关真实状态，即内部物理连接状态的有效检测；对于没有配置开关状态选件的开关而言，其在构建通道时的状态信息更是无法有效获知。

基于传统方法，开关矩阵(类)产品构建通道时的故障判定主要依赖于使用矢量网络分析仪对相应通道的散射参数进行测试，根据通道的传输散射参数进行人工判定该通道是否存在故障。但是即使测试结果表明通道存在故障，也无法准确诊断和定位通道的故障位置，需要进行反复多次的分别拆装调测与测试加以人工判断和定位。在实际应用中，通常微波半导体器件(集成电路)的测试规模较大，适应需求的相应开关矩阵的通道规模及复杂度都较高。

综上，发明人认为采用传统方法，不仅缺少对于真实状态进行有效检测的技术手段，而且调测操作过程繁杂且效率较低，难以有效满足开关矩阵(类)产品的维护保障以及微波半导体器件(集成电路)多参数、高效率测试的相关应用需求和技术要求。

发明内容

为了解决上述问题，本发明提出了一种开关矩阵通道故障诊断方法及系统，对开关矩阵中各个不连续检测节点的反射信号进行测试，通过与理想状态下开关状态进行比较，筛选出有故障点的通道，并基于频域反射FDR对故障点位置进行定位，实现多通道的快速检测与故障诊断定位；根据开关矩阵所构建通道的真实物理连接状态的有效检测，解决间接等效方法产生误报的不确定性问题。

为了实现上述目的，本发明采用如下技术方案：

第一方面，本发明提供一种开关矩阵通道故障诊断方法，包括：

对开关矩阵中待测开关所在通道构建测试通道矩阵；

对测试通道矩阵内检测节点进行反射信号测试，通过预设反射信号阈值，判断检测节点是否处于反射状态，并构建测试通道检测节点矩阵；

将测试通道检测节点矩阵与正常通道检测节点矩阵进行比较，得到故障点通道；