[发明专利]经皮/经针电刺激输出短路检测方法

说明书

本发明公开了一种经皮/经针电刺激输出短路检测方法，其检测电路包括光耦隔离输出电路，恒流源电路，模拟开关电路，运放电路和驱动运放电路。该检测方法为通过切换模拟开关，比较不同通道的输出差值，从而判断当前状态是否处于短路状态。采样的数据先经过高精度仪表放大器放大，在通过滤波及整形电路后，经过隔离输出给ADC电路。探头采样频率为1KHz。本电路对短路检测方法准确，实时性较好，通过高精度器件的测量，能更有效的检测输出探头电极的短路检测和保护。

技术领域

本发明涉及电学领域，尤其是经皮/经针电刺激输出短路检测方法

背景技术

针对传统的经皮/经针电刺激输出短路保护方法，由于技术上、方法上等各种原因，使用的电路无法有效的起到检测和保护的作用，且使用的ADC电路精度低，采样速率慢，三极管的Ic电流对温度敏感等缺点。本发明针对上述缺点，发明了一种新型经皮/经针电刺激输出短路检测方法，采用高精度ADC采样电路，外加高速运放电路，电路简单，可靠性高，并且对温度稳定性高，电流损耗小，电路能承受更宽的输入电压范围等优点。提高ADC精度使电路检测效率更高，检测的电路精度高，环路稳定性较好。MOS管具有工作电流极低，Ron导通电阻小，内耗小等优点。采用MOS管驱动使整个输出短路检测电路功耗更低，发热量小等优点。

发明内容

本发明的目的在于针对现有技术的不足，提供一种经皮/经针电刺激输出短路检测方法。

本发明的目的是通过以下技术方案实现的：

一种经皮/经针电刺激输出短路检测方法，其检测电路包括光耦隔离输出电路，恒流源电路，模拟开关电路，运放电路和驱动运放电路。

所述光耦隔离输出电路包括第一光耦合器和第二光耦合器；所述模拟开关电路包括模拟开关和用于控制选择模拟开关通道的单片机，所述单片机型号为STC15W4K56S4。

恒流源电路的输入端接入经皮/经针电刺激检测电压，恒流源电路的输出端、第一光耦合器的输出端集电极连接至模拟开关的第一通道输入脚。第一光耦合器的输出端发射极连接至Pout2_L；第二光耦合器的输出端发射极与模拟开关的第二通道的输入脚和输出脚连接，第二光耦合器的输出端集电极连接至Pout2_R+。第一光耦合器、第二光耦合器的输入端正极均接3.3V电压，输入端负极均接至Spst_1。模拟开关的第一通道的输入脚、输出脚与运放电路的正向输入端相连，模拟开关的第三通道的输入脚、输出脚与运放电路的反向输入端相连。模拟开关的A、B管脚分别接单片机的控制管脚4052_B_SEL1和4052_B_SEL2，用于控制选择模拟开关的通道。运放电路的输出端与驱动运放电路的正向输入端相连，驱动运放电路的反向输入端与输出端相连。所述Pout2_L和Pout2_R+与前端经皮/经针电刺激输出隔离变压器输出相连，连接变压器输出的采样电压；Spst_1为控制电平管脚。所述检测方法包括如下步骤：

(1)在t0时刻，控制Spst_1输出低电平，使得第一光耦合器和第二光耦合器光耦管子打开；

(2)在t0+t1时刻，t1为光耦打开所需要的时间，光耦延时后，此时Pout_2_L-和Pout_2_R+通过光耦导通；

(3)在t0+t1+t2时刻，一般t2时刻为2ms左右，控制4052_B_SEL1和4052_B_SEL2两个控制管脚，分别输出低电平，此时模拟开关选择第一通道作为输出通道，经过运放电路放大输出的电压信号，采样驱动运放电路输出的Temp_Out_2信号，得到结果V0值；

(4)在t0+t1+t2+t3时刻，t3延时一般为5ms左右，切换模拟开关，两个控制管脚分别输出低电平和高电平，模拟开关选择第二通道作为输出通道，经过运放电路放大，采样得出电压值V1值；

(5)计算最终输出结果，V1-V0值，如果V1-V0TEMP0，则短路，如果V1-V0TEMP0，则工作正常。