[发明专利]一种低频振荡影响下PMU量测误差分析方法

权利要求书

1.一种低频振荡影响下PMU量测误差分析方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：

步骤1：建立低频振荡下的电力信号模型，电力信号模型包括幅值振荡模型x_Am(t)、相角振荡模型x_Pm(t)、同时振荡模型x_AmPm(t)；

步骤2：构建PMU量测方法，相量测量装置PMU利用傅里叶变换得到相量表达式，通过欧拉公式将信号的相量形式变换为复数形式，根据步骤1中的幅值振荡模型计算在幅值振荡下相量测量值的实部误差因子与虚部误差因子得到在幅值振荡情况下相量测量误差表达式

步骤3：利用傅里叶变换得到相量表达式，通过欧拉公式将信号的相量形式变换为复数形式，根据步骤1中的相角振荡模型计算在相角振荡下相量测量值的实部误差因子与虚部误差因子得到在相角振荡情况下相量测量误差表达式

步骤4：利用欧拉公式变换得到傅里叶变换的复数表示形式，根据步骤1中的同时振荡模型得到幅值、相角同时振荡下相量测量值的实部误差因子与虚部误差因子得到在幅值、相角同时振荡情况下相量测量误差表达式

步骤5：利用上述步骤得到的各个相量测量误差表达式进行定量PMU量测误差计算。

2.根据权利要求1所述的一种低频振荡影响下PMU量测误差分析方法，其特征在于，所述步骤1包括如下步骤：

步骤11：建立低频振荡下的幅值振荡模型，通过幅值调制系数k_Am和幅值调制频率ω_Am表征在低频振荡下电力信号幅值振荡情况；幅值振荡模型公式如下：

式中：A_m表示基频分量有效值，ω₀表示基频，表示基频初相角；k_Am表示幅值调制系数，ω_Am表示幅值调制频率，Δt表示采样间隔时间，n表示离散采样点数；

步骤12：建立低频振荡下的相角振荡模型，通过相角调制系数k_Pm和相角调制频率ω_Pm表征在低频振荡下电力信号相角振荡情况；相角振荡情况公式如下：

式中：A_m表示基频分量有效值，ω₀表示基频，表示基频初相角；k_Pm表示相角调制系数，ω_Pm表示相角调制频率，Δt表示采样间隔时间，n表示离散采样点数；

步骤13：建立低频振荡下的幅值、相角同时振荡模型，通过幅值调制系数k_Am、幅值调制频率ω_Am、相角调制系数k_Pm和相角调制频率ω_Pm表征在低频振荡下电力信号幅值、相角同时振荡情况；幅值、相角同时振荡模型公式如下：

式中：A_m表示基频分量有效值，ω₀表示基频，表示基频初相角；k_Am表示幅值调制系数，ω_Am表示幅值调制频率，Δt表示采样间隔时间，n表示离散采样点数；k_Pm表示相角调制系数，ω_Pm表示相角调制频率。