[发明专利]一种表征近红外仪器差异和校正的方法

权利要求书

1.一种表征近红外仪器差异和校正的方法，其特征在于，包括以下步骤：

获得标准样品；

利用主机仪器和从机仪器分别采集所述标准样品的光谱获得第一标准光谱和第二标准光谱，其中，设置所述主机仪器和所述从机仪器的光谱采集参数相同；

根据所述第一标准光谱和所述第二标准光谱获得所述第一标准光谱与所述第二标准光谱的欧氏距离；

根据所述欧氏距离获得所述主机仪器和所述从机仪器的仪器差异；

根据主机光谱和分析检测指标参考值，建立主机模型，其中所述主机光谱包括利用所述主机仪器采集建模用样品所获得的光谱和所述第一标准光谱，所述参考值通过化学方法获得；

用所述主机模型在所述从机仪器上计算所述标准样品的分析检测指标获得预测值，并获得所述预测值与所述标准样品的参考值之间的预测误差；

将所述第二标准光谱投影至主机光谱空间上，获得所述主机仪器和所述从机仪器的光谱差异；具体地，在所述主机仪器上建立光谱的投影矩阵，所述第二标准光谱通过该投影矩阵投影到所述主机光谱空间上，能够投影到主机仪器上的光谱即是与主机仪器无差异的光谱，不能够投影到所述主机仪器上的剩余光谱即为与主机仪器有差异的光谱，该投影剩余光谱为所述主机仪器与所述从机仪器的光谱差异；

根据所述光谱差异与所述预测误差建立所述主机仪器与所述从机仪器间的修正模型；

所述光谱差异的计算公式为：

，

其中，X_m为所述主机光谱，X_s为所述第二标准光谱，为所述主机仪器与所述从机仪器的光谱差异，+表示广义的逆矩阵；

所述根据所述光谱差异与所述预测误差建立所述主机仪器与所述从机仪器之间的修正模型，包括通过以下公式计算系数b^*：

，

其中，b^*为所述修正模型的系数，为预测误差；

所述方法还包括通过以下公式获得未知样本在所述从机仪器上的预测结果：

，

其中，X_s，unknown为未知样本在所述从机仪器上的光谱，b为所述主机模型的因子数，b^*为所述修正模型的系数。

2.根据权利要求1所述的表征近红外仪器差异和校正的方法，其特征在于，所述光谱采集参数包括波长扫描范围、分辨率、扫描次数和光谱点数。

3.根据权利要求2所述的表征近红外仪器差异和校正的方法，其特征在于，所述光谱点数通过所述主机仪器自带软件或插值的方法设置。

4.根据权利要求1所述的表征近红外仪器差异和校正的方法，其特征在于，所述仪器差异包括通过计算和比较所述第一标准光谱和所述第二标准光谱的平均欧式距离或欧式距离分布获得。

5.根据权利要求1所述的表征近红外仪器差异和校正的方法，其特征在于，所述分析检测指标为总植物碱的含量。

6.根据权利要求1或5所述的表征近红外仪器差异和校正的方法，其特征在于，所述建立主机模型的方法为偏最小二乘法。

7.根据权利要求6所述的表征近红外仪器差异和校正的方法，其特征在于，建立主机模型时，根据交互验证法选择因子数。

8.根据权利要求7所述的表征近红外仪器差异和校正的方法，其特征在于，选择所述因子数为10。

9.根据权利要求6所述的表征近红外仪器差异和校正的方法，其特征在于，建立所述修正模型时，选择因子数为2-4中任意整数值。