[发明专利]室分器件故障定位方法、装置、电子设备和可读存储介质

权利要求书

1.一种室分器件故障定位方法，其特征在于，包括：

导入电子测试图层；所述电子测试图层是基于室分器件的图纸文件生成，并携带有所述室分器件的坐标信息；

基于在所述电子测试图层中设定的采样点，采集所述采样点的信号测试值，并确定所述采样点的坐标信息；

基于所述室分器件的坐标信息和所述采样点的坐标信息，将所述采样点的信号测试值与所述采样点的信号参考值进行比对，定位发生故障的室分器件。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述电子测试图层还携带有所述室分器件的类型信息和所述室分器件的连接关系信息；

所述基于所述室分器件的坐标信息和所述采样点的坐标信息，将所述采样点的信号测试值与所述采样点的信号参考值进行比对，定位发生故障的室分器件，包括：

根据所述室分器件的类型信息和所述室分器件的坐标信息，得到所述室分器件中天线的坐标信息；

基于所述天线的坐标信息和所述采样点的坐标信息，将所述采样点的信号测试值与所述采样点的信号参考值进行比对，确定所述采样点归属的天线是否发生故障；

若所述采样点归属的天线发生故障，根据所述室分器件的连接关系信息，确定所述天线的上级室分器件是否发生故障。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述天线的坐标信息和所述采样点的坐标信息，将所述采样点的信号测试值与所述采样点的信号参考值进行比对，确定所述采样点归属的天线是否发生故障，包括：

基于所述天线的坐标信息和所述采样点的坐标信息，通过k均值聚类算法，将所述采样点的信号测试值与所述采样点的信号参考值进行比对，得到确定所述采样点归属的天线是否发生故障的第一测试结果；

基于所述天线的坐标信息和所述采样点的坐标信息，通过贝叶斯算法，将所述采样点的信号测试值与所述采样点的信号参考值进行比对，得到确定所述采样点归属的天线是否发生故障的第二测试结果；

所述若所述采样点归属的天线发生故障，根据所述室分器件的连接关系信息，确定所述天线的上级室分器件是否发生故障，包括：

若根据所述第一测试结果确定所述采样点归属的天线发生故障，根据所述室分器件的连接关系信息，得到确定所述天线的上级室分器件是否发生故障的第一判断结果；

若根据所述第二测试结果确定所述采样点归属的天线发生故障，根据所述室分器件的连接关系信息，得到确定所述天线的上级室分器件是否发生故障的第二判断结果；

综合所述第一判断结果和所述第二判断结果，确定所述天线的上级室分器件是否发生故障。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述天线的坐标信息和所述采样点的坐标信息，通过k均值聚类算法，将所述采样点的信号测试值与所述采样点的信号参考值进行比对，得到确定所述采样点归属的天线是否发生故障的第一测试结果，包括：

对每一楼层的所述采样点的信号测试值进行k均值聚类处理，并根据所述聚类处理的结果确定每一楼层的所述采样点的信号参考值；

根据所述天线的坐标信息和所述采样点的坐标信息，基于所述采样点的信号测试值，确定每一天线在预设的半径范围内所述采样点的信号平均值；

将每一天线的所述采样点的信号平均值与所在楼层的所述采样点的信号参考值进行比对，得到确定所述天线是否发生故障的所述第一测试结果。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述天线的坐标信息和所述采样点的坐标信息，通过贝叶斯算法，将所述采样点的信号测试值与所述采样点的信号参考值进行比对，得到确定所述采样点归属的天线是否发生故障的第二测试结果，包括：

根据历史数据，确定在各预设场景下、在距离天线的各预设范围内所述采样点的信号参考值；

根据所述天线的坐标信息和所述采样点的坐标信息，基于所述采样点的信号测试值，确定每一天线在所述各预设范围内所述采样点的信号平均值；

将每一天线在所述各预设范围内的所述采样点的信号平均值及所述采样点的信号测试值，分别与相同场景下所述各预设范围内的所述采样点的信号参考值进行比对，得到确定所述天线是否发生故障的所述第二测试结果。