[发明专利]基于BIM楼梯面层净高检查系统、应用系统的方法及工艺有效
| 申请号: | 202010306569.6 | 申请日: | 2020-04-17 |
| 公开(公告)号: | CN111460567B | 公开(公告)日: | 2022-11-15 |
| 发明(设计)人: | 蔡鑫润 | 申请(专利权)人: | 同瀚建筑科技(杭州)有限公司 |
| 主分类号: | G06F30/13 | 分类号: | G06F30/13;E04F11/02;G01B21/08;G01B21/16 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 310011 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 基于 bim 楼梯 面层 净高 检查 系统 应用 方法 工艺 | ||
1.一种基于BIM楼梯面层净高检查系统,其特征在于,包括:
构建模块(1),接收外界输入的土建模型,根据土建模型构建建筑信息模型,保存并输出建筑信息模型;
筛选模块(2),响应于建筑信息模型,拾取建筑信息模型中标记为楼板的所有信息组成对照信息组,拾取建筑信息模型中的楼梯面层信息组成分析信息组,输出对照信息组和分析信息组;
判断模块(3),响应于对照信息组和分析信息组,拾取对照信息组中的楼板信息,对分析信息组的楼梯信息进行判断,判断标准为与楼板平行,拾取判断成功的楼梯面层数据,生成并输出判断信息组;
计算模块(5),响应于判断信息组和对照信息组,对判断信息组中的楼梯面层数据和对照信息组中的楼板数据进行运算,计算判断信息组中楼梯面层与对应楼板之间的距离,生成并输出距离数据组,对判断信息组中相邻的楼梯面层进行运算,计算相邻楼梯面层之间的距离,并对所有结果求平均,生成并输出平均数据;
对照模块(4),响应于平均数据、对照信息组和判断信息组,计算对照信息组中相邻楼板之间的距离数据,生成限值数据组,对限值数据组和距离数据组进行判断,判断标准为距离数据组中的距离信息小于限值数据组中的距离数据,拾取不符合判断标准的距离数据组成错误数据组,输出错误数据组,对平均数据与距离数据组中的数据进行判断,判断标准为距离数据组中的数据小于平均数据,拾取符合判断标准的数据,生成并输出为变异性数据。
2.根据权利要求1所述的基于BIM楼梯面层净高检查系统,其特征在于,还包括:
阈值设定模块(6),响应于距离数据组,调取预设的范围数值,以距离数据组中的数据为基础,范围数值为边界,生成阈值数据并输出阈值数据组;
对比模块(7),接收外界输入的实际值数据,响应于阈值数据组,对比实际值数据和阈值数据,判断实际值数据是否符合要求,判断标准为实际值数据落在阈值数据范围内,拾取符合判断标准的实际值数据生成合格数据组,拾取不符合判断标准的实际值数据生成异常数据组,输出合格数据组和异常数据组;
报警模块,响应于合格数据组和异常数据组,存储合格数据组,输出异常数据组。
3.根据权利要求1所述的基于BIM楼梯面层净高检查系统,其特征在于,还包括:
备案模块(9),接收外界输入的实际值数据,响应于距离数据组,存储相互对应的实际值数据和距离数据,支持实际值数据和距离数据输出。
4.一种应用如权利要求1至3任一所述的基于BIM楼梯面层净高检查系统的楼梯面层净高检查方法,其特征在于包括以下步骤:
构建土建模型;
根据土建模型构建建筑信息模型;
在建筑信息模型中筛选出所有楼板数据;
在建筑信息模型中筛选出所有楼梯面层数据;
对每一个楼梯面层数据进行判断,判断标准为是否与楼板数据平行,将所有符合判断标准的数据组成判断信息组;
以建筑信息模型中最下层楼板的高度为横轴建立二维坐标系;
检测每层楼板与最下层楼板之间的距离,设定比例尺,换算得到每层楼板在二维坐标系中的纵轴坐标,将每层楼板的纵轴坐标标记在二维坐标系中;
在二维坐标系中,在每层楼板的纵轴坐标处绘制平行于横轴的参照线;
测量判断信息组中楼梯面层与最下层楼板之间的距离,带入比例尺运算,得到二维坐标系上判断信息组中每层楼梯面层的纵坐标,在二维坐标系上标记出判断信息组中楼梯面层对应的判断点;
使用射线法,由判断点沿纵轴方向向横轴做射线,标记每条射线与其碰到的第一条参照线的交点为测量点,测量每个测量点与对应的判断点之间的距离,记做检测距离值;
将所有检测距离值套入比例尺中算出实际距离值;
将实际距离值标记在建筑信息模型中对应的楼梯面层位置处。
5.根据权利要求4所述的楼梯面层净高检查方法,其特征在于,还包括以下步骤:
计算每两层楼板之间的距离,判断是否有数值大于两层楼板之间距离的实际距离值,标记所有符合上述判断条件的楼梯面层。
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