[发明专利]基于光纤结构的卡尺在审
| 申请号: | 202010288872.8 | 申请日: | 2020-04-13 |
| 公开(公告)号: | CN111397464A | 公开(公告)日: | 2020-07-10 |
| 发明(设计)人: | 不公告发明人 | 申请(专利权)人: | 西安柯莱特信息科技有限公司 |
| 主分类号: | G01B3/18 | 分类号: | G01B3/18;G01B11/00 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 710000 陕西省西安市高新区高*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 基于 光纤 结构 卡尺 | ||
本发明涉及基于光纤结构的卡尺,具体涉及长度检测装置领域。本发明提供的卡尺包括:底座、深度尺、探测器、激光器、光纤、可移动滑块、固定挡板和处理显示模块;当该卡尺需要对待测物体进行尺寸测量测量时候,将该待测物体夹持在该可移动滑块和该固定挡板之间,该可移动滑块对该光纤进行挤压,激光器射出的光耦合进该光纤的入射端,由于该光纤的另一端镀有反射膜,光传输到该反射膜上时,原路返回通过该光纤的入射端进入到该探测器中,由于可移动滑块对该光纤进行挤压,使得该光纤产生了形变,进而使得该光纤中传输的光产生弯曲损耗,通过该弯曲损耗可以计算的到该待测物体的准确的尺寸参数。
技术领域
本发明涉及长度检测装置领域,具体涉及一种基于光纤结构的卡尺。
背景技术
卡尺是生活中常用的一种量具,可以用来测量长度、内外径、深度,具有计量和检验的作用。在工业生产生中,也需要卡尺检验加工的产品是否符合标准。
现有技术中的卡尺主要包括:机械卡尺和电子卡尺两种,机械卡尺一般的最小误差为±0.03mm,电子卡尺的最小误差一般为±0.005mm/50mm。
但是,现有技术中的卡尺不适用于精度要求较高的测量要求。
发明内容
本本发明的目的在于,针对上述现有技术中的不足,提供一种基于光纤结构的卡尺,以解决现有技术中的卡尺不适用于精度要求较高的测量要求的问题。
为实现上述目的,本发明实施例采用的技术方案如下:
本申请提供一种基于光纤结构的卡尺,卡尺包括:底座、深度尺、探测器、激光器、光纤、可移动滑块、固定挡板和处理显示模块;底座的一端靠近底座的表面的位置开设有容纳深度尺的凹槽,凹槽的长度大于深度尺的长度,深度尺设置在凹槽中,可移动滑块垂直设置在深度尺远离开槽处的另一端,固定挡板固定设置在底座靠近可移动滑块的一端,底座另一端设置有激光器,探测器设置在激光器远离底座的一侧,光纤为“Y”形光纤,“Y”形光纤的分叉端分别连接有激光器和探测器,“Y”形光纤的另一端涂覆有反射膜,且与可移动滑块连接,处理显示模块与探测器电连接,用于接收探测器探测的光信号。
可选的,该“Y”形光纤远离分叉端的一端涂覆的反射膜为全反射膜。
可选的,该光纤的形状为螺旋状。
可选的,该螺旋状光纤的螺旋直径为1cm~2cm。
可选的,该卡尺还包括电磁屏蔽膜,电磁屏蔽膜镀在光纤表面。
可选的,该电磁屏蔽膜的材料采用金属铜的氧化物。
可选的,该光纤靠近可移动滑块的一端为直光纤。
可选的,该直光纤靠近可移动滑块一端镀有反射膜。
可选的,该光纤内部镶嵌有贵金属纳米颗粒。
本发明的有益效果是:
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