[发明专利]一种按键测试方法、装置、电子设备和存储介质有效
申请号: | 202010277348.0 | 申请日: | 2020-04-10 |
公开(公告)号: | CN111537871B | 公开(公告)日: | 2022-10-18 |
发明(设计)人: | 黄长斌 | 申请(专利权)人: | OPPO(重庆)智能科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/327 | 分类号: | G01R31/327 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人: | 贾伟;张颖玲 |
地址: | 401120 重庆*** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 按键 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种按键测试方法,应用于电子设备,其特征在于,所述方法包括:
当电子设备未进入按键测试阶段时,获得触发指令的检测结果;
若所述检测结果表征未检测到触发指令,获得对所述电子设备的所有按键中的第一按键的测试操作,其中,所述第一按键为所述所有按键中的任一按键;
响应所述测试操作,生成触发指令;
基于所述触发指令,生成测试结果;
其中,所述基于所述触发指令,生成测试结果,包括:
分析所述触发指令,得到所述触发指令关联的所述电子设备的显示区域中第二按键的数量,其中,所述触发指令用于调整所述第二按键对应的显示参数;
基于所述第一按键与所述第二按键之间的数量关系,生成测试结果;其中,所述数量关系包括所述第一按键的数量与所述第二按键的数量相同,所述第二按键的数量大于所述第一按键的数量。
2.根据权利要求1所述的按键测试方法,其特征在于,所述基于所述第一按键与所述第二按键之间的数量关系,生成所述测试结果,包括:
若所述第一按键的数量与所述第二按键的数量相同,响应所述触发指令,调整所述第二按键对应的显示参数;
获得所述所有按键中每一按键对应的调整后的第二按键的显示参数;
若所述调整后的第二按键的显示参数为预设显示参数,生成用于表征测试通过的所述测试结果。
3.根据权利要求1所述的按键测试方法,其特征在于,所述基于所述第一按键与所述第二按键之间的数量关系,生成测试结果,包括:
若所述第二按键的数量大于所述第一按键的数量,生成用于表征测试未通过的所述测试结果。
4.根据权利要求3所述的按键测试方法,其特征在于,所述方法还包括:
若所述第二按键的数量大于所述第一按键的数量,生成第一提示信息,所述第一提示信息用于提示所述第一按键存在第一故障;
输出所述第一提示信息。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的按键测试方法,其特征在于,所述方法还包括:
若所述检测结果表征检测到所述触发指令,生成第二提示信息,所述第二提示信息用于提示存在第二故障;
输出所述第二提示信息。
6.根据权利要求1至4中任一项所述的按键测试方法,其特征在于,若所述检测结果表征未检测到所述触发指令,获得对所述电子设备的所有按键中的第一按键的测试操作,包括:
若所述检测结果表征未检测到所述触发指令,生成第三提示信息并输出所述第三提示信息,所述第三提示信息用于提示测试对象的个数为一个;
获得对所述第一按键的测试操作。
7.一种按键测试装置,其特征在于,所述装置包括:
获得单元,用于当电子设备未进入按键测试阶段时,获得触发指令的检测结果;
第一处理单元,用于若所述检测结果表征未检测到触发指令,获得对所述电子设备的所有按键中的第一按键的测试操作,其中,所述第一按键为所述所有按键中的任一按键;
生成单元,用于响应所述测试操作,生成触发指令;
第二处理单元,用于分析所述触发指令,得到所述触发指令关联的所述电子设备的显示区域中第二按键的数量,其中,所述触发指令用于调整所述第二按键对应的显示参数;基于所述第一按键与所述第二按键之间的数量关系,生成测试结果;其中,所述数量关系包括所述第一按键的数量与所述第二按键的数量相同,所述第二按键的数量大于所述第一按键的数量。
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