[发明专利]一种晶片测试电路及应用

权利要求书

1.一种晶片测试电路，其特征在于，包括

USB连接电路、主控芯片电路、闪存接口电路、供电及基准电路、电源管理电路以及电流检测与自恢复电路；

所述USB连接电路通过USB线用于将电脑与晶片测试产品相连；

所述主控芯片电路与USB连接电路连接，用于对测试Flash晶元进行测试；

所述闪存接口电路与主控芯片电路连接，包括用于焊接探针的焊盘、滤波电容单元、电阻取样单元以及比较电路，

所述滤波电容单元用于滤除电源波动，得到稳定的电源，经电阻取样单元将Flash的电流转换为电压送至比较电路进行比较，

所述供电及基准电路与USB连接电路、主控芯片电路以及电流检测与自恢复电路连接，用于对USB连接电路、主控芯片电路以及电流检测与自恢复电路供电，

所述电流检测与自恢复电路与比较电路连接，所述电流检测与自恢复电路用于电路保护及电路恢复。

2.根据权利要求1所述的晶片测试电路，其特征在于，所述插接件JP2为焊盘，插接件JP2上设置的插接件引脚与设置在主控芯片电路中的主控芯片U1上设置的主控芯片引脚对应连接。

3.根据权利要求1所述的晶片测试电路，其特征在于，所述供电及基准电路包括第一供电控制单元、第二供电控制单元、第三供电控制单元以及第四供电控制单元，

所述第一供电控制单元，用于电源开关控制，大电流保护控制；

所述第二供电控制单元，将受第一供电控制单元控制的5V电压降至3.3V，对测试Flash晶元供电；

所述第三供电控制单元，将受第一供电控制单元控制的5V电压降至1.8V，对测试Flash晶元供电；

所述第四供电控制单元，将受第一供电控制单元控制的5V电压降至2.5V，对比较电路供电。

4.根据权利要求1所述的晶片测试电路，其特征在于，所述电源管理电路接入电源，并与供电及基准电路连接，其中，所述电源管理电路中设置有第一导通单元和第二导通单元，所述第一导通单元和第二导通单元用于选择对测试Flash晶元VCCQ电压,以适应不同的测试Flash晶元。

5.根据权利要求1或4所述的晶片测试电路，其特征在于，所述电源管理电路还设置有滤波单元，所述滤波单元用于滤除VCCQ电压的波动。

6.根据权利要求1所述的晶片测试电路，其特征在于，所述电流检测与自恢复电路包括比较器单元一、比较器单元二、过流保护单元、自锁电路单元以及自恢复电路单元，

所述比较器单元一和比较器单元二与过流保护单元连接，过流保护单元与自锁电路单元以及自恢复电路连接。

7.根据权利要求6所述的晶片测试电路，其特征在于，所述比较器单元一由电阻R9、电阻R10以及电容C13构成第一分压电路，提供216mV参考电压；所述比较器单元二由电阻R13、电阻R15、电容C25构成第二分压电路，提供的416mV参考电压。

8.根据权利要求6所述的晶片测试电路，其特征在于，所述过流保护单元用于当电流采样信号sample的电压大于216mV，比较器单元一输出高电平，二极管D1导通，MOS管Q1导通，设置在第一供电控制单元内的USB限流芯片U2的EN引脚被拉低，USB限流芯片U2截止，5V电压无输出，起到保护的目的。