[发明专利]资源共享结构测试负载板的检测方法、装置及电子设备

说明书

本发明实施例公开了一种资源共享结构测试负载板的检测方法、装置及电子设备，方法包括：在进行常规测试之前，将待测试的资源共享结构测试负载板接入测试系统，根据待测试的资源共享结构负载板的资源共享方案，对地址控制进行检测，排除资源共享中存在的问题，并在确认资源共享中不存在问题后，将待测试的资源共享结构负载板从所述测试系统中取出，并进行常规测试。本发明实施例在常规检测方法前，针对资源共享方案提出对应的控制检测方案，并通过接入测试系统，实现对测试负载板的快速、有效、全面的检测，解决了由于资源共享结构测试负载板结构复杂，存在大量继电器导致的常规检测方法测试困难的问题，是一个快速、全面、有效、可靠的检测方法。

技术领域

本发明涉及集成电路测试技术领域，具体涉及一种资源共享结构测试负载板的检测方法、装置及电子设备。

背景技术

在半导体测试过程中，自动测试设备是一种测试仪器的集合体，对集成电路芯片的测试是由测试系统与探针台经过精密对接共同完成。而测试负载板是一种连接被测器件和测试设备测试口的接口电路，一般为一端固定在测试设备的测试头上，与测试所需的测试系统内部资源连接，在量产中另一端通过Tower与探卡连接来进行测试。而无论是测试系统内部还是负载板上都会采用大量的开关电路，这些开关电路都是用继电器完成的，其中在测试系统中光耦继电器以其稳定性好，体型小的优点，经常被厂商进行采用。因此在本次申请中资源共享结构测试负载板设计是通过输出信号控制光耦继电器，实现资源共享线路的通断。因为在测试过程中，当负载板上的继电器出现短路，或者断路时，就会对程序测试造成严重的影响。对于一块新到的资源共享负载板，采用传统的万用表测量继电器的方法不仅难以判断，而且速度慢，对地址上的出现的问题无法快速有效确认，当涉及到地址与继电器之间出现测试问题时需要大量时间进行排除，且容易导致漏筛，尤其是在量产测试中会导致严重事故。因此在前期如何快速有效的对负载板进行确认，以实现其安全有效的量产是本技术领域人员需要解决的重要问题之一。

发明内容

由于现有方法存在上述问题，本发明实施例提出一种资源共享结构测试负载板的检测方法、装置及电子设备。

具体地，本发明实施例提供了以下技术方案：

第一方面，本发明实施例提供了一种资源共享结构测试负载板的检测方法，包括：

在进行常规测试之前，将待测试的资源共享结构测试负载板接入测试系统，根据待测试的资源共享结构测试负载板的资源共享方案，对地址控制进行检测，排除资源共享中存在的问题，并在确认资源共享中不存在问题后，将待测试的资源共享结构测试负载板从所述测试系统中取出，并进行常规测试。

进一步地，所述在进行常规测试之前，将待测试的资源共享结构测试负载板接入测试系统，根据待测试的资源共享结构测试负载板的资源共享方案，对地址控制进行检测，排除资源共享中存在的问题，并在确认资源共享中不存在问题后，将待测试的资源共享结构测试负载板从所述测试系统中取出，并进行常规测试，具体包括：

在进行常规测试之前，将待测试的资源共享结构测试负载板接入测试系统，将探卡板和wafer上好后进行单扎，对继电器闭合后进行DC测试；

针对于I2C控制地址项进行验证，对资源共享所对应地址的DUT进行单扎确认，排除资源共享中存在的问题；

确认问题后进行常规方法验证，确认没有问题后将待测试的资源共享结构测试负载板从所述测试系统中取出，并进行常规测试。

进一步地，所述针对于I2C控制地址项进行验证，对资源共享所对应地址的DUT进行单扎确认，排除资源共享中存在的问题，具体包括：

通过I2C确认地址项是否存在问题，并进行OS测试验证，若验证失败，则在OPEN状态下进行TDR确认，以确认是否为机台原因，并在Close状态下对不同地址下芯片进行确认，单扎确认问题电路进行常规检测；若验证通过，则对每个DUT单独进行测试，排除I2C控制上的问题。