[发明专利]槽液补偿分析方法、装置及计算机可读存储介质在审
申请号: | 202010215215.0 | 申请日: | 2020-03-24 |
公开(公告)号: | CN113445116A | 公开(公告)日: | 2021-09-28 |
发明(设计)人: | 马磊;田小琼;王路;尹太平;孙楷 | 申请(专利权)人: | 鸿富锦精密电子(成都)有限公司 |
主分类号: | C25D21/14 | 分类号: | C25D21/14;C25D11/02 |
代理公司: | 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 | 代理人: | 贾耀斌 |
地址: | 610041 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 补偿 分析 方法 装置 计算机 可读 存储 介质 | ||
1.一种槽液补偿分析方法,所述方法包括:
获取槽体信息和槽体中槽液参数的浓度检测值;
判断所述浓度检测值是否小于第一预设阈值;
当所述浓度检测值小于第一预设阈值时,依据所述槽体信息分析所述槽体需补加的化学品为一种或多种;
当所述槽液需补加的化学品为一种时,通过第一分析方法分析所述化学品的补加量;
当所述槽液需补加的化学品为多种时,通过第二分析方法分析多种所述化学品的补加量。
2.如权利要求1所述的槽液补偿分析方法,其特征在于,通过第一分析方法分析所述化学品的补加量时,运算逻辑为m=(c1-c2)*V*f1;
其中,m为化学品的补加量,c1为浓度标准值,c2为浓度检测值,V为槽体体积,f1为调比例标准系数。
3.如权利要求1所述的槽液补偿分析方法,其特征在于,依据所述第二分析方法分析多种化学品的补加量的步骤具体包括:
分析每种化学品的补加高度;
以补加高度为正值的化学品对应的运算逻辑来分析多种化学品的补加量。
4.如权利要求3所述的槽液补偿分析方法,其特征在于,以补加高度为正值的化学品对应的运算逻辑来分析多种化学品的补加量的步骤具体为:
判断是否需要单独补充液位;
若需要单独补充液位,则分别计算每种化学品的补加量;
若不需要单独补充液位,则计算补加高度为正值的化学品的补加量,补加高度为负值的化学品无需补加。
5.如权利要求4所述的槽液补偿分析方法,其特征在于,所述槽液需补加的化学品包括第一化学品和第二化学品;
第一化学品的补加高度为h1=(c2/ω2/ρ2*V/f/f1-c1/ω1/ρ1*V/f)/a/b;
第二化学品的补加高度为h2=(c1/ω1/ρ1*V/f/f1-c2/ω2/ρ2*V/f)/a/b;
其中,c1、c2分别为第一化学品和第二化学品的浓度检测值;ω1、ω2分别为第一化学品和第二化学品的质量百分数;ρ1,ρ2分别为第一化学品和第二化学品的密度;V为槽体体积;f为体积修正系数;f1为调比例标准系数;a、b分别为槽体长和槽体宽。
6.如权利要求5所述的槽液补偿分析方法,其特征在于,
当需要单独补充液位时,若第一化学品的补加高度为正值,第一化学品补加量的运算逻辑为m1=a*b*(H-h1)/(f1+1)*ρ1+a*b*h1*ρ1,第二化学品的补加量的运算逻辑为m2=a*b*(H-h1)/(f1+1)*f1*ρ2;
若第二化学品的补加高度为正值,第一化学品补加量的运算逻辑为m1=a*b*(H-h2)/(f1+1)*ρ1,第二化学品的补加量的运算逻辑为m2=a*b*(H-h2)/(f1+1)*f1*ρ2+a*b*h2*ρ2;
其中,H为需补充的液位差。
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