[发明专利]一种批量手表综合性能测试设备在审

专利信息
申请号: 202010209874.3 申请日: 2020-03-23
公开(公告)号: CN111290255A 公开(公告)日: 2020-06-16
发明(设计)人: 马涛;张克来;于克;冯甜甜 申请(专利权)人: 天王电子(深圳)有限公司
主分类号: G04D7/00 分类号: G04D7/00
代理公司: 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 代理人: 李金伟
地址: 518000 广东省深圳市宝安区*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 批量 手表 综合 性能 测试 设备
【说明书】:

本申请提供了一种批量手表综合性能测试设备,包括:载物盘,用于间隔放置多个待检测件;旋转装置,用于放置所述载物盘并使所述载物盘进行多方位运动;信号采集装置,设于所述旋转装置上并与所述待检测件进行接触式信号采集;信号处理装置,用于对所述信号采集装置所采集到的信号进行分析处理。通过载物盘可以一次性装载多个待检测件,从而可以实现手表的批量检测,提高了检测效率;旋转装置用于改变待检测件的方位,同时模拟手表佩戴后的运动情况,从而实现对手表的多方位和动态检测,相对于现有技术中手表静止检测来说,本申请的批量手表综合性能测试设备更能检测出手表性能的稳定性,有效保证了手表的品质。

技术领域

本申请属于手表测试技术领域,更具体地说,是涉及一种批量手表综合性能测试设备。

背景技术

每只机械手表都会发出特有的声音,机械手表的嘀嗒声音来源于机芯内的擒纵调速机构,擒纵调速机构是一个反馈调节器,它决定了机械手表的计时精度。目前,机械手表的校表装置也正是利用了擒纵调速机构发出的声音来检测机械手表的性能,利用声音来检测手表性能的技术也比较成熟,在此不进行说明。但是,目前校表装置的校表操作每次仅能对单个手表进行检测,而且仅能在静止状态(手表位置不变)下对机械手表进行检测,这样检测效率低下且检测不全面。

发明内容

本申请实施例的目的在于提供一种批量手表综合性能测试设备,以解决现有技术中校表装置检测效率低的技术问题。

为实现上述目的,本申请采用的技术方案是:一种批量手表综合性能测试设备,包括:

载物盘,用于间隔放置多个待检测件;

旋转装置,用于放置所述载物盘并使所述载物盘进行多方位运动;

信号采集装置,设于所述旋转装置上并与所述待检测件进行接触式信号采集;

信号处理装置,用于对所述信号采集装置所采集到的信号进行分析处理。

在一个实施例中,所述旋转装置包括:机架,设于所述机架上的第一转动件,设于所述第一转动件上的第二转动件,以及设于所述第二转动件上的升降平台,所述载物盘设置在所述升降平台上,所述信号采集装置设置在所述第二转动件上,所述第一转动件的旋转轴线与所述第二转动件的旋转轴线相垂直。

在一个实施例中,所述第一转动件包括:转动设于所述机架上的第一框体,以及设于所述机架上并用于驱动所述第一框体旋转的第一电机,所述第二转动件包括:转动设于所述第一框体上的第二框体,以及设于所述第一框体上的并用于驱动所述第二框体转动的第二电机。

在一个实施例中,所述升降平台包括:设于所述第二框体内的导柱,活动式套设于所述导柱上的托盘,以及驱动所述托盘进行升降的丝杆组件,所述载物盘放置在所述托盘上,所述信号采集装置设置在所述第二框体上并面向所述载物盘设置。

在一个实施例中,所述待检测件为机芯,所述载物盘为机芯载物盘;所述机芯载物盘包括:第一盘本体,以及,活动式设于所述第一盘本体上的并用于调节所述机芯位置的调节板,所述第一盘本体上开设有放置槽以及间隔设于各所述放置槽底部的定位槽,各所述机芯通过相应的所述定位槽定位于所述放置槽内并使所述机芯上的表冠凸出所述调节板的上表面。

在一个实施例中,所述待检测件为表头,所述载物盘为表头载物盘;所述表头载物盘包括第二盘本体,所述第二盘本体上开设有多个间隔设置的容纳腔,所述容纳腔的侧壁上凸设有抵压部,所述表头放置在所述容纳腔内并使所述抵压部抵压在所述表头的上表面。

在一个实施例中,所述待检测件为成表,所述载物盘为成表载物盘;所述成表载物盘包括第三盘本体,所述第三盘本体上开设有多个间隔设置的表壳槽,各所述表壳槽两端均设有表带槽,所述表壳槽底部设有限位槽,所述成表的表冠或表壳凸出所述第三盘本体的上表面。

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