[发明专利]一种高效的产品测试方法及装置有效
| 申请号: | 202010165740.6 | 申请日: | 2020-03-11 |
| 公开(公告)号: | CN111447104B | 公开(公告)日: | 2022-01-04 |
| 发明(设计)人: | 沈彦闻;张致远;李钊 | 申请(专利权)人: | 武汉赫尔墨斯智能科技有限公司 |
| 主分类号: | H04L43/50 | 分类号: | H04L43/50;H04B10/075;H04B17/00;G06Q10/06;G06Q50/04;G01M11/02;G01R31/00 |
| 代理公司: | 深圳市温斯顿专利代理事务所(普通合伙) 44686 | 代理人: | 徐员兰 |
| 地址: | 430000 湖北省武汉市东湖新技术开*** | 国省代码: | 湖北;42 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 高效 产品 测试 方法 装置 | ||
本发明实施例提供了一种高效的产品测试方法,包括:根据待测产品的测试项目,计算最小测试资源包并构建测试资源池,所述测试资源池包括至少一个最小测试资源包;根据单个待测产品的测试用时、各测试项目的仪表使用时间以及所述最小测试资源包的数量计算可支持的待测产品数量;构建待测产品的测试排序表,并按照预设的测试用例申请所述测试资源池中的资源;以及通过集成的资源交换设备,将所述测试资源池中的资源自动地动态分配给待测产品以完成所述各测试项目。本发明可以将多个测试工序合并到一个测试环境当中,而且无需反复插拔和上电操作,为待测产品动态分配测试资源,显著提供了测试效率。
技术领域
本发明属于产品测试技术领域,更具体地,涉及一种高效的产品测试方法及装置。
背景技术
在产品制造行业,产品出厂前都需要经过各种测试,例如需要对光接口进行测试,电接口进行测试以及对射频接口进行测试等。通常,进行这些测试都需要使用各种专用设备,配备专用测试人员。这些测试的价格通常不菲。为了提高产品测试效率,通常从测试设备使用率、测试方法和测试人员数量几个因素出发,寻求更好的测试方案。
在现有技术中,为提高产品测试效率,通常有两种做法。一种是设计多个专有测试平台,比如专门进行光测试的平台或者专门进行电测试的平台,在专有测试平台进行某一种测试。这样可以提高测试设备的使用效率,但是同一个产品完成所有测试需要多次插拔、上电及搬运,降低了测试效率。另一种是将多种专用设备集中到一个测试平台,将单个产品的测试全部在一个平台上完成,这样可以减少测试人员数量,减少插拔和上电次数,但是专用设备的使用率很低,大部分时间下,专用设备都在空闲状态。
发明内容
针对现有技术的以上缺陷和改进需求,本发明的目的在于提供一种高效的产品测试方法及装置。该方法包括:
根据待测产品的测试项目,计算最小测试资源包并构建测试资源池,所述测试资源池包括至少一个最小测试资源包;
根据单个待测产品的测试用时、各测试项目的仪表使用时间以及所述最小测试资源包的数量计算可支持的待测产品数量;
构建待测产品的测试排序表,并按照预设的测试用例申请所述测试资源池中的资源;以及
通过集成的资源交换设备,将所述测试资源池中的资源自动地动态分配给待测产品以完成所述各测试项目。
优选地,所述根据待测产品的测试项目,计算最小测试资源包包括:
根据待测产品的测试项目,确定所需测试仪表类型,所述仪表类型包括光测试仪表、电测试仪表和/或射频测试仪表;以及
将仪表使用时间最短的测试仪表的数量定为1,计算其他类型的测试仪表的数量Ni,其中Ni=Ti/T1或Ni等于Ti与T1的商取整后加1,Ti为待计算数量的测试仪表的仪表使用时间,T1为仪表使用时间最短的测试仪表的测试时间。
优选地,所述根据单个待测产品的测试用时、各测试项目的仪表使用时间以及所述最小测试资源包的数量计算可支持的待测产品数量包括:
确定单个产品的测试用时,所述测试用时包括各测试项目的仪表使用时间总和Ta,测试操作用时Tb和上电用时Tc;
确定最短仪表使用T1和最小测试资源包数量M;以及
计算可支持的待测产品数量Ndut,其中Ndut≥(Ta+Tb+Tc)*M/T1。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉赫尔墨斯智能科技有限公司,未经武汉赫尔墨斯智能科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010165740.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





