[发明专利]一种空间星体勘察取样装置的缓冲吸能保温结构

说明书

本发明公开了一种空间星体勘察取样装置的缓冲吸能保温结构，属于星体探测辅助设备的技术领域。空间星体勘察取样装置的缓冲吸能保温结构，包括第一筒体、第一隔热层、侧壁缓冲吸能层和第二筒体；第一筒体的内部用于安装取样设备，第一隔热层连接在第一筒体的外侧；侧壁缓冲吸能层连接在第一隔热层的外侧，第二筒体套接在侧壁缓冲吸能层的外侧。解决了天体内部的温差大，导致取样设备的内部仪器超出使用温度范围，高速侵彻过程中冲击力大，容易损坏取样设备，使取样设备不能够正常使用的技术问题。本发明的第一筒体内安装取样设备，第一隔热层对天体内部的温度进行隔热，侧壁缓冲吸能层对高速侵彻的冲击力进行缓冲，确保设备能够正常使用。

技术领域

本发明涉及星体探测辅助设备的技术领域，具体的涉及一种空间星体勘察取样装置的缓冲吸能保温结构。

背景技术

人类对深空探索的天体覆盖至太阳系内的大部分行星、卫星及小行星。随着科技的发展，人类发现，天体的次表层星壤剖面含有丰富的地质学及星表环境信息，是研究天体起源及演化过程的重要探测目标。因此，科学考察逐渐从星体表面深入至星体的内部，这时，就需要利用一种取样设备，采用高速冲击侵彻的方式进入天体内部，以探测天体的次表层星壤剖面。

高速侵彻取样设备在探测天体的次表层时，由于其体积轻巧，功耗低，是一种可取的方式。但是，取样设备在运行的过程中，其内部的仪器需要保持在一定的温度区间内，通常只要保证在0℃至50℃的区间即可。而取样设备进入天体内部后，由于天体内部内的温差比较大，温差范围可从极热状态到极冷状态，通常为120℃至零下270℃之间。因此，一旦取样设备进入天体内部，如不采取保温措施，很快就会超出工作温度范围，就会导致设备的内部仪器损坏，不能正常使用。

并且，取样设备高速侵彻进入天体内部时，还将面临高速冲击与过载，如不采取缓冲吸能装置，也会导致设备的内部仪器遭遇撞击损坏。这样就导致取样设备无法进入深空进行探测，对探测造成了一定的阻力。

发明内容

本发明的目的在于提供一种空间星体勘察取样装置的缓冲吸能保温结构，以解决现有技术中存在的，天体内部的温差大，导致取样设备的内部仪器损坏，高速侵彻进入天体内部过程中冲击力大，容易损坏取样设备，使取样设备不能够正常使用的技术问题。

本发明提供的一种空间星体勘察取样装置的缓冲吸能保温结构，包括第一筒体、第一隔热层、侧壁缓冲吸能层和第二筒体；

第一筒体的内部用于安装取样设备，第一隔热层连接在第一筒体的外侧；

侧壁缓冲吸能层连接在第一隔热层的外侧，第二筒体套接在侧壁缓冲吸能层的外侧。

进一步的，侧壁缓冲吸能层设有卡槽，卡槽内连接有弹性缓冲件。

进一步的，卡槽的数量为多个，弹性缓冲件的数量为与卡槽的数量相对应的多个，每个弹性缓冲件连接在每个卡槽内。

进一步的，还包括第二隔热层；

第二隔热层连接在侧壁缓冲吸能层与第二筒体之间。

进一步的，还包括加热层；

加热层连接在第一筒体的内侧壁。

进一步的，第一筒体包括第一内壳和第二内壳；

加热层连接在第一内壳的内侧壁，第二内壳套接在第一内壳的外侧；

第一内壳与第二内壳之间通过连接件连接。

进一步的，第一筒体的一端连接有第一缓冲吸能部；第一筒体的另一端连接有第二缓冲吸能部。

进一步的，第一缓冲吸能部包括第一缓冲块、第一弹性连接件和第二缓冲块，第一缓冲块设有第一缓冲槽，第一弹性连接件连接在第一缓冲槽内，第二缓冲块连接在第一弹性连接件上；