[发明专利]数据存储媒体的损坏数据列的筛选方法有效
申请号: | 202010146533.6 | 申请日: | 2020-03-05 |
公开(公告)号: | CN113254257B | 公开(公告)日: | 2022-09-30 |
发明(设计)人: | 黄圣元 | 申请(专利权)人: | 慧荣科技股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/10 | 分类号: | G06F11/10 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 陈亮 |
地址: | 中国台湾新竹县*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 数据 存储 媒体 损坏 筛选 方法 | ||
一种数据存储媒体的损坏数据列的筛选方法,数据存储媒体耦接于控制单元,且数据存储媒体包括有多个物理块,其中每一个物理块包括多个数据列,而多个数据列被划分为多个组块,损坏数据列的筛选方法包括以下步骤:(a)控制单元计算每一个组块中多个损坏数据列的数量,并据以对多个组块排序,其中多个损坏数据列是选自于多个数据列。(b)控制单元以多个损坏数据列群,依序对每一个组块中的多个损坏数据列标注或记录,其中每一个损坏数据列群标注或记录每一个组块中损坏数据列位置及损坏数据列数量。
技术领域
本发明涉及一种数据存储媒体的相关技术,尤其涉及一种数据存储媒体的损坏数据列的筛选方法。
背景技术
一般而言,存储装置例如是固态硬盘(Solid State Drive,SSD)、SD存储卡(Secure Digital Memory Card)或闪存盘(USB flash drive)等,主要是由控制单元与数据存储媒体所构成。数据存储媒体是由多个数据列(column)所构成,而这些数据列则是用来存储数据。由于存储装置在制造的过程中,难免会生产出一些次级品。这些次级品在贩卖给消费者的前,都得先将数据存储媒体中损坏的数据列(bad column)筛选出来,并将它标注或记录至损坏数据列表。控制单元便可根据损坏数据列表,越过这些已标注的损坏数据列,不对它进行数据的存取,从而避免发生存取数据错误的情况。
然而,旧有的标注或记录方式,乃是逐一对损坏数据列进行标注或记录。事实上,损坏数据列的标注是有数量上的限制(例如最多可标注254个)。因此,如果数据存储媒体的瑕疵程度较严重,则损坏数据列的数量可能会超过可标注的数量。当可标注的数量用完时,那么数据存储媒体中剩余未标注的损坏数据列,将可能消耗糾錯碼(Error CorrectingCode,ECC)的糾錯能力,造成原本可以糾錯的数据无法被适当的糾錯。
嗣后,便有人提出新的筛选方法以改良旧有的缺失。新的筛选方法乃是将邻近的损坏数据列合并成损坏数据列群,以群的方式来进行标注。因此,在相同标注数量的条件下,使用此筛选方法将可大幅提高标注损坏数据列的数量,亦即超过可标注数量在硬件上的限制。虽然此筛选方法可以标注所有的损坏数据列,但若损坏数据列的分布是呈离散而非集中的态样,将大幅缩小数据存储媒体的容量,甚至远低于最低需求的容量,从而影响企业的营收获利。
因此,如何提供一种筛选方法除了可以超过硬件上损坏数据列标注数量的限制,又可确保数据存储媒体的容量可以满足最低需求的容量,将是本案所要着重的问题与解决的重点。
发明内容
有鉴于此,本发明实施例提供一种损坏数据列的筛选方法,适用于数据存储媒体,数据存储媒体耦接于控制单元,且数据存储媒体包括有多个物理块,其中各物理块包括多个数据列,而些数据列被划分为多个组块,损坏数据列的筛选方法包括:(a)控制单元计算每一个组块中多个损坏数据列的数量,并据以对多个组块排序,其中多个损坏数据列是选自于多个数据列;以及(b)控制单元以多个损坏数据列群,依序对每一个组块中的多个损坏数据列标注或记录,其中每一个损坏数据列群标注或记录每一个组块中损坏数据列位置及损坏数据列数量。
在本发明的一实施例中,在步骤b的步骤后,还包括:(c)控制单元计算每一个组块的容量,并加总多个组块的多个容量,以求得多个组块的总容量,并判断总容量是否满足最低需求容量。
在本发明的一实施例中,在步骤c的步骤后,还包括:(d)当判断为否时,判断多个组块中是否有至少一损坏数据列未被标注或记录于多个损坏数据列群,其中至少一损坏数据列未包含于多个损坏数据列;(e)当判断为是时,控制单元将任二个相隔为K个数据列的多个损坏数据列标注或记录于多个损坏数据列群,其中K为正整数;(f)计算每一个组块中多个损坏数据列的数量及任二个相隔为K个数据列的多个损坏数据列的数量,并据以对这多个组块排序;以及(g)控制单元以多个损坏数据列群来依序对每一个组块中的多个损坏数据列及任二个相隔为K个数据列的多个损坏数据列标注或记录,其中每一个损坏数据列群标注或记录每一个组块中损坏数据列位置及损坏数据列数量。
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