[发明专利]扩展式多次项自由曲面检测方法在审
| 申请号： | 202010135814.1 | 申请日： | 2020-03-02 |
| 公开（公告）号： | CN111351965A | 公开（公告）日： | 2020-06-30 |
| 发明（设计）人： | 黄兰;仝刚要;谢宇;崔宇 | 申请（专利权）人： | 信联智翊科技(苏州)有限公司 |
| 主分类号： | G01Q60/24 | 分类号： | G01Q60/24 |
| 代理公司： | 苏州吴韵知识产权代理事务所(普通合伙) 32364 | 代理人： | 王铭陆 |
| 地址： | 215200 江苏省苏州市吴*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 扩展 多次 自由 曲面 检测 方法 | ||
【权利要求书】：
1.扩展式多次项自由曲面检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1. 构建参数公式，公式如下：
S2. 采用C++方式对设计参数公式的程序编写；
S3. 将C++编译程序导入UA3P建立设计扩展式多次项自由曲面模型；
S4. 采用UA3P原子力探头扫描测量，编写NC测量路径，测量完整面后显示为一个3D轮廓面型；
S5. 对扫描测量点图像进行滤波处理后，输出真实测量结果。
2.根据权利要求1所述的扩展式多次项自由曲面检测方法，其特征在于：所述步骤S2中采用C++方式对设计参数公式及其涉及的项目进行程序编写。
3.根据权利要求2所述的扩展式多次项自由曲面检测方法，其特征在于：所述涉及的项目包括参数公式中的x，y，c，k，C1，C2，C3，…，C15中的任一项。
4.根据权利要求1所述的扩展式多次项自由曲面检测方法，其特征在于：所述步骤S5中滤波处理为通过UA3P处理软件对扫描测量取点进行粗差滤波处理。
5.根据权利要求1所述的扩展式多次项自由曲面检测方法，其特征在于：所述步骤S5中测量结果包括模具超精密配件扩展式多项次自由曲面的加工与设计理论值差异的三维轮廓面精度。
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