[发明专利]一种多红外发射头电路板测试装置

说明书

本发明涉及电子元件检测的技术领域，具体涉及一种多红外发射头电路板测试装置，包括支撑组件，检测组件和调节组件，支撑组件包括可安装待检测电路板的支撑底座和位于支撑底座一侧的支撑架；检测组件包括红外检测板和位于红外检测板底端且与红外发射头相对应的红外接收头，红外接收头的外侧设有红外隔离组件，且红外隔离组件罩设于红外发射头的外侧；调节组件的顶端与支撑架相连接，且调节组件的底端与红外检测板固定连接。红外接收头与红外发射头相对应，便于红外接收头检测红外发射头是否损坏。通过一次检测就可检测出待检测电路板上的多个红外发射头中是否有损坏，便于筛查掉不合格的待检测电路板，提高了待检测电路板的检测效率。

技术领域

本发明涉及电子元件检测的技术领域，具体涉及一种多红外发射头电路板测试装置。

背景技术

红外发射头广泛应用于信号接收技术领域，在生产过程中，红外发射头具有体积小和产量大的特点，针对红外发射头的质量检测，目前常常采用人工单个检测的方法。

在授权公告号为CN208675238U的中国专利申请，公开了一种用于光器件发射器的检测装置，在光器件生产制造中，需要对光发射器进行性能测定来确定其质量，一般的性能测定是对光发射器进行四向性测试，需要在测试过程中将测试组件的测试用纤从不同角度插入到光发射器中四次，再通过测试组件对四次测定的数据进行分析处理。采用此方案可以对红外发射台的四方性进行测量，且为单独红外发射器单独进行测量。

但是，当电路板上安装有多个红外发射器时，再继续采用人工单个检测的方法，会造成检测的效率比较低下。

发明内容

本发明的目的在于提供一种多红外发射头电路板测试装置，以解决现有技术中电路板上安装有多个红外发射头时，人工单个检测效率低下的技术问题。

为实现上述目的，本发明采用的技术方案是提供一种多红外发射头电路板测试装置，用于对待检测电路板进行检测，且所述待检测电路板上具有若干个红外发射头，包括支撑组件，检测组件，以及调整所述红外接收头靠近或远离红外发射头的调节组件，所述支撑组件包括可安装待检测电路板的支撑底座和位于所述支撑底座一侧的支撑架；所述检测组件包括红外检测板和位于所述红外检测板底端且与所述红外发射头相对应的红外接收头，所述红外接收头的外侧设有红外隔离组件，且所述红外隔离组件罩设于所述红外发射头的外侧；所述调节组件的顶端与所述支撑架相连接，且所述调节组件的底端与所述红外检测板固定连接。

进一步地，所述支撑架顶端的一侧设置有安装架，所述安装架上设置有用于固定所述调节组件的连接板。

进一步地，所述连接板开设有滑动通孔，所述调节组件包括滑动连接于所述滑动通孔的滑动杆，所述检测组件固定于所述滑动杆的底端，所述滑动杆的顶端设置有用于推拉所述滑动杆的手柄。

进一步地，所述滑动杆上设置有限制所述滑动杆转动的限位组件。

进一步地，所述限位组件包括固定于所述滑动杆一侧的限位块，所述滑动通孔的侧壁上开设有卡接所述限位块的限位槽，所述限位块滑动连接于所述限位槽。

进一步地，所述限位块的长度与所述滑动杆的长度相等。

进一步地，所述红外隔离组件包括位于所述红外检测板底端的红外隔离板和位于所述红外隔离板底端的隔离框，所述隔离框罩设于所述红外发射头的外侧。

进一步地，所述支撑底座上设置有限位凸台，所述待检测电路板上具有可卡接于所述限位凸台的卡槽。

进一步地，所述限位凸台的数量至少为两个且相对设置，所述卡槽的数量以及位置与所述限位凸台相对应。

进一步地，所述检测组件还包括检测安装台，所述检测安装台固定于所述滑动杆的底端，所述红外检测板位于所述检测安装台的底端。

本发明的有益效果在于：