[发明专利]显示面板的检测方法及其装置

说明书

本发明提供一种显示面板的检测方法及其装置，属于显示技术领域，其可至少部分解决现有的对显示装置的显示不良的方法的检测效果差、效率低的问题。本发明的一种显示面板的检测方法，包括：获取待检测显示面板点亮后的原始画面；对原始画面进行降噪处理，以形成检测画面；将检测画面划分为n个子检测画面；分别计算每个子检测画面的灰度平均值；根据灰度平均值和子检测画面的各个像素的灰度值得到检测画面的显示不良的范围，显示不良是在待检测显示面板的制备过程中的蒸镀工艺所用的掩膜版而造成的或者显示不良是由于待检测显示面板所贴的保护膜中的气泡造成的。

技术领域

本发明属于显示技术领域，具体涉及一种显示面板的检测方法及其装置。

背景技术

在有机发光二极管显示装置的制备过程中，通常需要利用掩膜版蒸镀形成各个有机发光层，然而由于掩膜版的缺陷或者误差在此过程中会造成有机发光二极管显示装置的显示不良。

现有的对上述显示不良的检测方法主要是依靠工作人员的目测，这样会出现由于工作人员的失误而造成漏检等现象，而且检测时间长、效率低。

发明内容

本发明至少部分解决现有的对显示装置的显示不良的方法的检测效果差、效率低的问题，提供一种检测效果好、效率高的显示面板的检测方法。

解决本发明技术问题所采用的技术方案是一种显示面板的检测方法，包括：

获取待检测显示面板点亮后的原始画面；

对所述原始画面进行降噪处理，以形成检测画面；

将所述检测画面划分为n个子检测画面；

分别计算每个所述子检测画面的灰度平均值；

根据所述灰度平均值和所述子检测画面的各个像素的灰度值得到所述检测画面的显示不良的范围，所述显示不良是在所述待检测显示面板的制备过程中的蒸镀工艺所用的掩膜版而造成的或者所述显示不良是由于所述待检测显示面板所贴的保护膜中的气泡造成的。。

进一步优选的是，所述根据所述灰度平均值和所述子检测画面的各个像素的灰度值得到所述检测画面的显示不良的范围包括：对于每一个所述子检测画面，用该子检测画面的灰度平均值分别减去该子检测画面的各个像素的灰度值，得到的差值大于第一阈值的对应的像素的位置形成所述显示不良的范围，所述第一阈值与所述待检测显示面板的性质有关。

进一步优选的是，所述根据所述灰度平均值和所述子检测画面的各个像素的灰度值得到所述检测画面的显示不良的范围之后还包括：将所述显示不良的范围内像素的灰度值与第二阈值比对，将大于所述第二阈值的灰度值调整为第一灰度值，将小于所述第二阈值的灰度值调整为第二灰度值，所述第一灰度值远远大于所述第二灰度值，第二灰度值对应的像素的位置为所述显示不良的位置，所述第二阈值与所述待检测显示面板的性质有关。

进一步优选的是，所述得到所述显示不良的位置之后还包括：在所述显示不良的位置中，将第n+2个像素的灰度值与第n+1个像素的灰度值相加得到p，将第n-2个像素的灰度值与第n-1个像素的灰度值相加得到q，若p-q大于第三阈值，则第n个像素的灰度值用于形成拟合曲线，所述第n个像素为所述显示不良的位置中的任意一个像素，所述第三阈值与所述待检测显示面板的性质有关；将所述拟合曲线斜率的绝对值与第四阈值比对，若所述拟合曲线斜率的绝对值大于第四阈值，则该所述显示不良是在所述待检测显示面板的制备过程中的蒸镀工艺所用的掩膜版而造成的，所述第四阈值与显示不良造成原因有关。

进一步优选的是，所述若所述拟合曲线斜率的绝对值大于第四阈值，则该所述显示不良是在所述待检测显示面板的制备过程中的蒸镀工艺所用的掩膜版而造成的包括：所述拟合曲线包括具有第一斜率和第二斜率的两部分线段构成，选取所述第一斜率和所述第二斜率中绝对值大的一个与所述第四阈值比对。