[发明专利]基于光纤的饱和蒸气压测量装置及系统

说明书

本发明涉及一种基于光纤的饱和蒸气压测量装置及系统，主要涉及气压测量技术领域。本申请通过将腔室的一端设置为感应部，另一端设置为储液室，光纤的纤芯夹持感应部，使得光纤中的光通过感应部，储液室中填充有液体，其中腔室为空腔结构，当储液室内的液体进行蒸发，在蒸汽达到饱和状态的时候，光纤中的光通过该感应部时在蒸汽的影响下，该感应部的折射率发生改变，进而使得该射出该感应部的透射光谱也相应发生改变，通过对光纤输出光的透射光谱进行检测，可以得到该输出光的折射率改变情况，通过输出光的折射率改变情况与蒸汽气压的对应关系，简单准确的得到该感应部中蒸汽的气压，即简单准确的得到该待测的饱和蒸气压。

技术领域

本发明涉及气压测量技术领域，主要介绍一种基于光纤的饱和蒸气压测量装置及系统。

背景技术

饱和蒸气压是在密闭条件中，在一定温度下，与固体或液体处于相平衡的蒸气所具有的压强称为饱和蒸气压。同一物质在不同温度下有不同的饱和蒸气压，并随着温度的升高而增大。纯溶剂的饱和蒸气压大于溶液的饱和蒸气压。

现有技术中对饱和蒸气压的测量一般是依靠公式lgP＝-52.23B/T+C，其中P为物质的饱和蒸气压，B和C为常数，与物质本身有关，T表示温度，通过测量饱和蒸气压的种类以及所处的温度进行测量，得到待测的饱和蒸气压。

由于现有技术检测待测的饱和蒸气压时，需要知道饱和蒸气压的种类以及对待测的饱和蒸气压的温度进行测量，使得饱和蒸气压的测量较为复杂。

发明内容

本发明的目的在于，针对上述现有技术中的不足，提供一种基于光纤的饱和蒸气压测量装置及系统，以解决现有技术中由于现有技术检测待测的饱和蒸气压时，需要知道饱和蒸气压的种类以及对待测的饱和蒸气压的温度进行测量，使得饱和蒸气压的测量较为复杂的问题。

为实现上述目的，本发明实施例采用的技术方案如下：

第一方面，本申请提供一种基于光纤的饱和蒸气压测量装置，饱和蒸气压测量装置包括：腔室和光纤，腔室为空腔结构，腔室的一端为感应部，另一端为储液室，光纤的纤芯夹持感应部，储液室中填充有液体。

可选地，该感应部的形状为矩形。

可选地，该感应部的宽度不大于1微米。

可选地，该腔室的形状为“T”形。

可选地，该“T”形腔室的感应部延伸出光纤的纤芯，且延伸出光纤线芯感应部的长度与另一端感应部的长度相同。

可选地，该饱和蒸气压测量装置还包括贵金属薄膜，贵金属薄膜覆盖在感应部外壁上。

可选地，该饱和蒸气压测量装置还包括自清洁层，自清洁层涂覆在感应部内壁上。

可选地，该自清洁层为二氧化硅颗粒层。

可选地，该饱和蒸气压测量装置还包括包覆层，包覆层包覆在感应部外侧。

第二方面，本申请还提供了另一种基于光纤的饱和蒸气压测量系统，饱和蒸气压测量系统包括：光谱仪和第一方面任意一项的饱和蒸气压测量装置，光谱仪设置在饱和蒸气压测量装置的光纤的输出端，用于对饱和蒸气压测量装置输出光的透射光谱进行检测。

本发明的有益效果是：

本申请通过将腔室的一端设置为感应部，另一端设置为储液室，光纤的纤芯夹持感应部，使得光纤中的光通过感应部，储液室中填充有液体，其中腔室为空腔结构，当储液室内的液体进行蒸发，在蒸汽达到饱和状态的时候，光纤中的光通过该感应部时在蒸汽的影响下，该感应部的折射率发生改变，进而使得该射出该感应部的透射光谱也相应发生改变，通过对光纤输出光的透射光谱进行检测，可以得到该输出光的折射率改变情况，通过输出光的折射率改变情况与蒸汽气压的对应关系，简单准确的得到该感应部中蒸汽的气压，即简单准确的得到该待测的饱和蒸气压。