[发明专利]一种多参数综合测试激光告警仪有效

专利信息
申请号: 202010056101.6 申请日: 2020-01-18
公开(公告)号: CN111207829B 公开(公告)日: 2022-03-15
发明(设计)人: 张瑞;王志斌;吴琼 申请(专利权)人: 中北大学
主分类号: G01J1/42 分类号: G01J1/42;G01J9/00
代理公司: 太原荣信德知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 14119 代理人: 杨凯;连慧敏
地址: 030051 山*** 国省代码: 山西;14
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摘要:
搜索关键词: 一种 参数 综合测试 激光 告警
【说明书】:

发明属于激光告警技术领域,具体涉及一种多参数综合测试激光告警仪,包括激光波长方向测量模块、激光脉冲脉宽测量模块、数据处理模块,激光波长方向测量模块、激光脉冲脉宽测量模块均连接在数据处理模块上。本发明通过激光波长方向测量模块、激光脉冲脉宽测量模块实现对激光波长、方位角、俯仰角和脉宽的多参数计算,并且本发明通过20个带通滤光片、超高速光电探测器、高精密时间测量芯片联合测试方法,极大减小复色背景和干扰光对测量的影响,且可根据光电探测器相应的个数来消除闪电等非激光装备光对测量的影响。本发明用于激光告警。

技术领域

本发明属于激光告警技术领域,具体涉及一种多参数综合测试激光告警仪。

背景技术

激光告警仪是识别来袭激光,计算激光参数,判断来袭激光功能的仪器。 目前激光告警仪仅能测量部分参数,或只能测量出激光波长和角度,或仅能测 量脉宽,测量方法和装置都比较单一化,没有实现通用化,并不能实现一种测 量装置对多种参数进行测量。且测量脉宽的光电探测器阵列前采用唯个高速光 电探测器,测量的激光脉宽会导致背景(如太阳光、天空)和外界干扰(如闪电、 复色强光)等影响,导致光电探测器饱和或误测,进而测量精度下降。

发明内容

针对上述激光告警仪测量方法和装置测量参数单一、易受外界干扰的技术 问题,本发明提供了一种测量精度高、误差小、效率高的多参数综合测试激光 告警仪。

为了解决上述技术问题,本发明采用的技术方案为:

一种多参数综合测试激光告警仪,包括激光波长方向测量模块、激光脉冲 脉宽测量模块、数据处理模块、系统控制模块、接收窗口,所述激光波长方向 测量模块、激光脉冲脉宽测量模块均通过系统控制模块连接在数据处理模块上, 所述激光波长方向测量模块、激光脉冲脉宽测量模块均设置在接收窗口的一侧。

所述激光波长方向测量模块包括前置光学系统、宽波段闪耀光栅、后置光 学系统、宽波段焦平段探测器,所述前置光学系统的一侧依次设置有宽波段闪 耀光栅、后置光学系统、宽波段焦平段探测器。

所述激光脉冲脉宽测量模块包括窄带滤光片阵列、超高速光电探测器、高 速比较器、高精密时间测量芯片,所述窄带滤光片阵列连接有超高速光电探测 器,所述超高速光电探测器通过高速比较器连接有高精密时间测量芯片。

所述窄带滤光片阵列包括20个带通滤光片,所述窄带滤光片阵列的每一个 光谱带宽为60nm。

所述数据处理模块包括ADC转换器、DSP处理器、液晶显示屏,所述ADC 转换器通过DSP处理器与液晶显示屏连接,所述ADC转换器连接有系统控制 模块。

所述系统控制模块采用FPGA控制器。

本发明与现有技术相比,具有的有益效果是:

本发明通过激光波长方向测量模块、激光脉冲脉宽测量模块实现对激光波 长、方位角、俯仰角和脉宽的多参数计算,并且本发明通过20个带通滤光片、 超高速光电探测器、高精密时间测量芯片联合测试方法,极大减小复色背景和 干扰光对测量的影响,且可根据光电探测器相应的个数来消除闪电等非激光装 备光对测量的影响。

附图说明

图1为本发明的结构示意图;

图2为本发明激光波长方向测量模块的结构示意图;

图3为本发明激光脉冲脉宽测量模块的结构示意图;

图4为本发明数据处理模块的结构示意图;

图5为本发明被测激光方向示意图;

图6为本发明方位角的测量原理图;

图7为本发明俯仰角的测量原理图;

图8为本发明激光脉宽与计数脉冲信号周期对比示意图;

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