[发明专利]接口测试方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号: | 202010052077.9 | 申请日: | 2020-01-17 |
| 公开(公告)号: | CN111274131A | 公开(公告)日: | 2020-06-12 |
| 发明(设计)人: | 葛晓静 | 申请(专利权)人: | 北京达佳互联信息技术有限公司 |
| 主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
| 代理公司: | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人: | 孟维娜;马敬 |
| 地址: | 100085 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 接口 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种接口测试方法,其特征在于,包括:
获取预设的测试用例,其中,所述测试用例包括待测试接口的接口信息和校验信息,所述校验信息用于声明校验字段和校验条件;
根据所述接口信息,向所述待测试接口发送测试请求;
接收所述待测试接口返回的测试结果,作为待校验测试结果;
按照所述校验条件,校验所述待校验测试结果中对应所述校验字段的待校验参数,以确定校验结果。
2.根据权利要求1所述的接口测试方法,其特征在于,所述接口信息包括:接口地址、接口名称和接口测试参数;
所述根据所述接口信息,向所述待测试接口发送测试请求步骤,包括:
根据所述接口地址和所述接口名称,确定所述待测试接口的接口位置;
向所述接口位置发送测试请求,所述测试请求携带有所述测试参数。
3.根据权利要求1或2所述的接口测试方法,其特征在于,所述按照所述校验条件,校验所述待校验测试结果中对应所述校验字段的待校验参数,包括:
对所述测试用例中的校验信息进行解析,以生成对应所述校验条件的断言表达式;
判断所述待校验测试结果中对应所述校验字段的待校验参数是否满足所述断言表达式。
4.根据权利要求3所述的接口测试方法,其特征在于,所述校验信息包括预设的基准校验结果;
所述对所述测试用例中的校验信息进行解析,以生成对应所述校验条件的断言表达式,包括:
基于所述校验信息所声明的校验字段,在所述基准校验结果中,确定对应所述校验字段的基准字符串,所述基本字符串为预设格式;
基于所述基准字符串,生成对应所述校验条件的断言表达式。
5.根据权利要求4所述的接口测试方法,其特征在于,所述判断所述待校验测试结果中对应所述校验字段的待校验参数是否满足所述断言表达式,包括:
根据所述待校验结果构建用于进行表达式运行的校验对象,所述校验对象用于表示所述待校验测试结果中对应所述校验字段的待校验参数;
判断所述待校验对象是否满足所述断言表达式。
6.根据权利要求5所述的接口测试方法,其特征在于,所述判断所述待校验对象是否满足所述断言表达式,包括:
将所述校验对象带入所述断言表达式进行表达式运算,并输出布尔值,作为所述待校验测试结果的校验结果。
7.根据权利要求6所述的接口测试方法,其特征在于,所述将所述校验对象带入所述断言表达式进行表达式运算,并输出布尔值,包括:
将所述校验对象带入所述断言表达式,并通过SpringEL解析器获取所述校验对象的布尔值,作为所述待校验测试结果的校验结果。
8.一种接口测试装置,其特征在于,包括:
测试用例获取模块,被配置为执行获取预设的测试用例,其中,所述测试用例包括待测试接口的接口信息和校验信息,所述校验信息用于声明校验字段和校验条件;
请求发送模块,被配置为执行根据所述接口信息,向所述待测试接口发送测试请求;
测试结果接收模块,被配置为执行接收所述待测试接口返回的测试结果,作为待校验测试结果;
校验模块,被配置为执行按照所述校验条件,校验所述待校验测试结果中对应所述校验字段的待校验参数,以确定校验结果。
9.一种接口测试电子设备,其特征在于,包括:
处理器;
用于存储所述处理器可执行指令的存储器;
其中,所述处理器被配置为执行所述指令,以实现如权利要求1至7中任一项所述的接口测试方法。
10.一种存储介质,当所述存储介质中的指令由接口测试电子设备的处理器执行时,使得接口测试电子设备能够执行如权利要求1至7中任一项所述的接口测试方法。
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