[发明专利]一种适用于无功补偿配电房的仪表自检接线系统及方法

权利要求书

1.一种适用于无功补偿配电房的仪表自检接线系统，其特征在于，包括电压采集器(1)、电流采集器(2)、接线调整器(3)、计量模块(4)和微处理器模块(5)；所述电压采集器(1)和电流采集器(2)均与接线调整器(3)通信连接；所述接线调整器(3)和计量模块(4)通信连接；所述计量模块(4)和微处理器模块(5)通信连接；

所述计量模块(4)包括电阻R7-R19、电阻R64、接地电阻R65-R66、电阻R67-R68、接地电阻R69-R70、接地电阻R73-R74、电阻R71-R72、电阻R75、接地电容C17、接地电容C19-C21、接地电容C23-C26、电容C27、接地电容C28、电容C29、接地电容C30、接地电容C44-C49、接地电容C56、接地电容C57-C58、发光二极管D1-D2、三极管Q1-Q2、晶振X2、端口P2-P5、型号为RN8302B的计量芯片U3和型号为LTV-816S-TA1的光耦芯片U20-U21；

所述芯片U3的REFV引脚分别与接地电容C17和接地电容C56连接；所述芯片U3的I1P引脚分别与接地电容C44和电阻R64的一端连接；所述芯片U3的I1N引脚分别与接地电容C45和电阻R67的一端连接；所述电阻R64的另一端分别与接地电阻R65和端口P2的第2引脚连接；所述电阻R67的另一端分别与接地电阻R66和端口P2的第1引脚连接；所述芯片U3的GND引脚、PS引脚、TIO1引脚、TIO2引脚、TEST引脚和DGND引脚均接地；所述芯片U3的I2P引脚分别与接地电容C46和电阻R68的一端连接；所述芯片U3的I2N引脚分别与接地电容C47和电阻R71的一端连接；所述电阻R68的另一端分别与接地电阻R69和端口P3的第2引脚连接；所述电阻R71的另一端分别与接地电阻R70和端口P3的第1引脚连接；所述芯片U3的DVCC引脚和RST_N引脚连接，作为芯片U3的DVCC引脚；所述芯片U3的AVCC引脚分别与接地电容C21、接地电容C58和电阻R9的一端连接；所述电阻R9的另一端和芯片U3的DVCC引脚连接；所述芯片U3的I3P引脚分别与接地电容C48和电阻R72的一端连接；所述电阻R72的另一端分别与接地电阻R73和端口P4的第2引脚连接；所述芯片U3的I3N引脚分别与接地电容C49和电阻R75的一端连接；所述电阻R75的另一端分别与接地电阻R74和端口P4的第1引脚连接；所述芯片U3的PM1引脚、NC/PM0引脚和DVCC引脚均与芯片U3的DVCC引脚连接；所述芯片U3的D1P8引脚分别与接地电容C19和接地电容C57连接；所述芯片U3的XI引脚分别与接地电容C26、电阻R13的一端和晶振X2的一端连接；所述芯片U3的XO引脚分别与接地电容C25、电阻R13的另一端和晶振X2的另一端连接；所述芯片U3的SDI引脚分别与接地电容C24和电阻R12的一端连接；所述芯片U3的SCS_N引脚分别与接地电容C20、电阻R7的一端和电阻R8的一端连接；所述电阻R8的另一端和芯片U3的DVCC引脚连接；所述芯片U3的SCLK引脚分别与接地电容C23和电阻R11的一端连接；所述芯片U3的SDO引脚和电阻R10的一端连接；所述芯片U3的CF1引脚和电阻R16的一端连接；所述电阻R16的另一端和三极管Q1的基极连接；所述三极管Q1的发射极接地；所述三极管Q1的集电极分别与芯片U20的第2引脚、电阻R14的一端和接地电容C28连接；所述电阻R14的另一端分别与二极管D1的负极和电容C27的一端连接；所述二极管D1的正极和电容C27的另一端均与芯片U3的DVCC引脚连接；所述芯片U20的第1引脚和电阻R15的一端连接；所述电阻R15的另一端和芯片U3的DVCC引脚连接；所述芯片U20的第3引脚作为计量模块(4)的COM输出端口；所述芯片U20的第4引脚和端口P5的第1引脚连接；所述芯片U3的CF2引脚和电阻R18的一端连接；所述电阻R18的另一端和三极管Q2的基极连接；所述三极管Q2的发射极接地；所述三极管Q2的集电极分别与芯片U21的第2引脚、电阻R19的一端和接地电容C30连接；所述电阻R19的另一端分别与二极管D2的负极和电容C29的一端连接；所述二极管D2的正极和电容C29的另一端均与芯片U3的DVCC引脚连接；所述芯片U21的第1引脚和电阻R17的一端连接；所述电阻R17的另一端和芯片U3的DVCC引脚连接；所述芯片U21的第3引脚作为计量模块(4)的COM输出端口；所述芯片U21的第4引脚和端口P5的第2引脚连接；所述端口P3的第3引脚作为计量模块(4)的COM输出端口。