[发明专利]成像系统探测器剪切引起的偏置校正在审
申请号: | 201980053326.1 | 申请日: | 2019-07-09 |
公开(公告)号: | CN112566554A | 公开(公告)日: | 2021-03-26 |
发明(设计)人: | K·M·布朗 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦有限公司 |
主分类号: | A61B6/03 | 分类号: | A61B6/03;A61B6/00;G06T11/00 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 刘兆君 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 成像 系统 探测器 剪切 引起 偏置 校正 | ||
一种系统(116)包括去对数器(202),所述去对数器被配置为对取对数的数据进行去对数,以产生去对数的经剪切的数据。所述取对数的数据包括衰减线积分和剪切引起的偏置。所述系统还包括均值估计器(204),所述均值估计器被配置为估计未取对数的经剪切的数据的平均值。所述系统还包括校正确定器(206),所述校正确定器被配置为基于未取对数的经剪切的数据的所估计的平均值来确定来对剪切引起的偏置进行校正。所述系统还包括加法器(210),所述加法器被配置为利用所述校正来校正所述取对数的数据以产生经校正的取对数的数据。
技术领域
以下总体涉及成像,并且更具体地涉及成像系统探测器剪切引起的偏置校正,并且在计算机断层摄影(CT)的具体应用中进行描述。
背景技术
CT扫描器包括:具有多个探测器像素的探测器阵列,每个探测器像素产生强度测量结果,所述强度测量结果指示沿着穿过对象的X射线光子的路径的X射线衰减;以及探测器电子设备,其至少利用模数(A/D)转换器来处理所述测量结果,所述模数转换器配置为执行对数运算,所述对数运算将数字化的测量值转换为衰减线积分。经由(一次或多次)校准和/或校正对衰减线积分进行预处理,然后对其进行重建以生成体积图像数据。
在低剂量CT成像应用中,例如,以30至50毫安秒(mAs)的剂量水平进行的肺癌筛查,在扫描过程中撞击探测器像素的X射线光子数至少在至少一些数据采集区间可能变得如此之低,以至于探测器输出信号是或者主要是探测器电子设备的电子噪声。在这种情况下,减去偏置信号后,某些测量结果将变为负。由于对于小于或等于零的值未定义对数运算,因此负值将“剪切”为较小的正值。
这种剪切会将测量结果的平均值偏移。遗憾的是,平均值的这种偏移在重建的体积图像数据中引入了暗的阴影伪影(在本文中称为“剪切引起的偏置”伪影)。该伪影降低了图像质量。这样,相对于没有剪切引起的偏置伪影的体积图像数据,体积图像数据的诊断质量可能受到损害。因此,存在对于一种减轻体积图像数据中这种剪切引起的偏置伪影的方法的未解决的需要。
发明内容
本文中描述的各方面解决以上提及的问题和其他问题。
在一个方面中,一种系统包括配置为对取对数的数据进行去对数以产生去对数的剪切的数据的去对数器。所述取对数的数据包括衰减线积分和剪切引起的偏置。所述系统还包括均值估计器,所述均值估计器被配置为估计去对数的经剪切的数据的平均值。所述系统还包括校正确定器,所述校正确定器被配置为基于所述去对数的经剪切的数据的所估计的平均值来确定来对剪切引起的偏置进行校正。所述系统还包括加法器,所述加法器被配置为利用所述校正来校正所述取对数的数据以产生经校正的取对数的数据。
在另一方面中,一种计算机可读介质被编码有计算机可执行指令,所述计算机可读指令在由计算机的处理器运行时,使所述处理器:对取对数的数据进行去对数以产生去对数的经剪切的数据,所述取对数的数据包括衰减线积分和剪切引起的偏置,估计所述去对数的经剪切的数据的平均值,基于所述去对数的经剪切的数据的所估计的平均值来确定对剪切引起的偏置的校正,并且利用所述校正来校正所述取对数的数据,以产生经校正的取对数的数据。
在另一方面中,一种方法包括对取对数的数据进行去对数以产生去对数的经剪切的数据,所述取对数的数据包括衰减线积分和剪切引起的偏置。所述方法还包括估计所述去对数的经剪切的数据的平均值。所述方法还包括基于所述去对数的经剪切的数据的所估计的平均值来确定来对剪切引起的偏置的校正。所述方法还包括利用所述校正来校正所述取对数的数据以产生经校正的取对数的数据。
附图说明
本发明可以采取各种部件和各部件的布置以及各种步骤和各步骤的安排的形式。附图仅出于图示优选的实施例的目的并且不应被解释为对本发明的限制。
图1示意性地图示了具有预处理电路的示例性成像系统,所述预处理电路至少包括剪切引起的偏置校正器。
图2示意性地图示了图1的预处理电路的示例。
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