[发明专利]用于检测物质响应的方法和系统

说明书

本文公开了一种检测物质响应的方法。该方法包括提供振荡的初级磁场以引起样品产生次级磁场。该方法还包括在基本垂直于样品表面的方向上减小初级磁场和次级磁场的分量对原子磁力计的影响。该方法还包括用原子磁力计检测次级磁场以检测物质响应。

技术领域

本发明涉及用于检测物质响应的方法和系统。

发明内容

本发明的各方面试图提供一种改进的用于检测物质响应的方法和系统。

根据本发明的一方面，提供一种检测物质响应的方法，包括：

提供振荡的初级磁场以引起样品产生次级磁场；

在基本垂直于样品表面的方向上减小由初级磁场和次级磁场的分量对原子磁力计的影响；以及

用所述原子磁力计检测所述次级磁场以检测物质响应。

根据本发明的一方面，提供一种用于检测物质反应的系统，包括：

磁场源，用于提供振荡的初级磁场以使样品产生次级磁场；以及

原子磁力计，用于检测所述次级磁场，以检测物质响应；

其中，所述系统被配置为在基本垂直于所述样品表面的初级方向上减小由所述初级磁场和次级磁场的分量对所述原子磁力计的影响。

本发明实施例的可选特征提供在从属权利要求中。

根据本发明的一方面，提供一种检测物质响应的方法，包括：

提供振荡的初级磁场以引起样品产生次级磁场；

调制原子磁力计的偏置磁场；以及

用所述原子磁力计检测所述次级磁场以检测物质响应。

在一些实施例中，所述初级磁场的振荡频率被固定。

在一些实施例中，偏置磁场的调制频率小于初级磁场的振荡频率，优选地，其幅度量级小于初级磁场的振荡频率。

在一些实施例中，该方法包括对原子磁力计响应于次级磁场的检测而提供的信号进行解调，以确定幅度和/或相位。

在一些实施例中，该方法包括参考初级磁场的振荡频率，对由原子磁力计响应于次级磁场的检测而提供的信号进行解调，以提供部分解调信号。

在一些实施例中，该方法包括参考偏置磁场的调制频率对部分解调信号进行解调，以确定由原子磁力计响应于次级磁场的检测而提供的信号的幅度和/或相位。

根据本发明的一方面，提供一种用于检测物质反应的系统，包括：

原子磁力计，用于检测所述次级磁场，以检测物质响应；该原子磁力计包括用于提供偏置磁场的偏置磁场源；以及

用于调制偏置磁场的调制器。

在一些实施例中，该系统包括用于提供振荡的初级磁场的初级磁场源。

在一些实施例中，该系统包括解调器结构，用于确定由原子磁力计响应于次级磁场的检测而提供的信号的幅度和/或相位。

在一些实施例中，该解调器结构包括接收器，用于接收由原子磁力计响应于次级磁场的检测而提供的信号，并且被配置为参考一个或该初级磁场的振荡频率对该信号进行解调以提供部分解调信号。

在一些实施例中，解调器结构包括用于从调制器接收调制信号的接收器，并且被配置为参考调制信号来解调部分解调信号，以允许确定部分解调信号的幅度和/或相位。

在一些实施例中，偏置磁场源包括线圈结构。