[发明专利]用于检测在基板的表面上或在基板内的磷酸盐和/或硫酸盐的方法、LWIR检测装置的用途及LWIR成像系统

说明书

本发明涉及用于检测在基板的表面上或在基板内的磷酸盐和/或硫酸盐的方法、用于检测由存在于基板上和/或基板中的磷酸盐和/或硫酸盐散射和/或发射反射的电磁辐射的强度的LWIR检测装置的用途、包含磷酸盐和/或硫酸盐的基板用于经由电磁辐射散射和/或发射提供信息的用途以及用于检测基板上和/或基板内的磷酸盐和/或硫酸盐的LWIR成像系统。

技术领域

本发明涉及用于检测在基板的表面上或在基板内的磷酸盐和/或硫酸盐的方法、用于检测由存在于基板上和/或基板中的磷酸盐和/或硫酸盐散射和/或发射反射的电磁辐射的强度的LWIR检测装置的用途、包含磷酸盐和/或硫酸盐的基板用于经由电磁辐射散射和/或发射提供信息的用途以及用于检测基板上和/或基板内的磷酸盐和/或硫酸盐的LWIR成像系统。

背景技术

利用印刷色彩来印刷例如纸的基板是广泛已知的技术。报纸、传单、卷标、图片等等如今是利用各种印刷技术及印刷色彩来印刷的。基板上的印刷可由人眼检测到，但仅在存在比如太阳光的另外光源时才如此。此外，仅在印刷及基板的色彩不同时才可检测到印刷。然而，在一些状况下，期望甚至在黑暗中检测基板上的印刷物或涂层。此外，期望利用对于人眼不可见或几乎不可见但可用其他检测方法(例如通过用IR光的辐照)容易地检测到的图案来印刷或涂布基板。

IR光相比于可见光具有较长的波长。即使IR光享有可见光的许多性质，其不同波长仍具有若干独特特性。举例而言，对可见光不透明的材料可对IR透明，反之亦然。此外，与可见光相比，IR光经受的由烟雾或灰尘引起的散射及吸收少得多，且IR光不能被人眼看到。与由物体仅在极高温度处发射的可见光相反，IR能量亦由全部物体在高于绝对0℃的温度处发射。因此，IR能量一直无所不在，甚至在黑暗中及在极低温度处亦如此。不同物体发射不同量的IR能量，此取决于物体的温度及其发射率。IR检测装置可感测或检测来自场景的各种区域的IR能量的不同强度。通常，出于显示目的，IR检测装置通过例如计算机装置的电子器件将检测到的电磁辐射转换成对应强度的可见光。此准许真正的夜视能力，以及在全部光条件下观测热性质的能力。此外，此准许检测物体上或物体内的例如因不同化合物导致的不可由人眼检测到的结构差异的能力。

IR检测装置及方法对于技术人员是已知的，例如从US 2018/157012 A1，其涉及一种使用3至5μm的波长范围的红外光学系统，自物侧开始依次为，具有负倍率并形成有朝向物体的凸形弯月面的第一透镜，在两侧上均为凸形的第二透镜，以及冷孔径。

TW 2005/11592 A涉及一种IR相机系统，其包括热可调谐光学滤波器像素阵列、NIR源及NLR检测器阵列。

CN 107729907 A涉及一种基于红外热成像系统的故障辨识方法，该方法包含以下步骤：通过采用红外热成像系统拍摄电设备，以便获得电设备的红外图像；以及将在扩展处理之后的电设备的红外图像与原始电设备的可见图像融合，以便区分电设备中的发热目标与周围背景。

US 9,204,109 B1涉及在疲劳测试及尤其是用于在涡轮机转子叶片中产生小裂纹以用于将检验器训练为有资格检验具有小裂纹的叶片的过程期间对小裂纹进行IR检测，其中使每个叶片振动以便发起使用可检测小裂纹的IR相机来观测小裂纹，并且当在叶片上产生处于期望尺寸的小裂纹时，停止振动并移除叶片，并且接着将叶片用于训练过程中以训练检验器并使检验器有资格用于检验过程。

US 2008/0042063 A1涉及一种IR成像系统，其包括透镜模块及耦接至透镜模块的成像模块，其中透镜模块包括限定通孔的筒、被接收在通孔中的至少一个透镜，以及被接收在筒中并且被配置用于滤除可见光的IR带通滤波器。

然而，不仅基板上的印刷或涂层而且基板自身是可由IR检测装置检测到的。由基板自身散射和/或发射反射的电磁辐射与由印刷或涂层散射和/或发射反射的电磁辐射常常干涉或迭加，并且因此，印刷或涂层的检测是不可能的。