[发明专利]多光谱分析系统的校准在审

专利信息
申请号: 201980038953.8 申请日: 2019-06-10
公开(公告)号: CN112567227A 公开(公告)日: 2021-03-26
发明(设计)人: R.吴;D.肖纳 申请(专利权)人: 珀金埃尔默健康科学股份有限公司
主分类号: G01N21/27 分类号: G01N21/27;G01N21/64;G01N33/533
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 王增强
地址: 美国马*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 光谱分析 系统 校准
【说明书】:

用于校准多光谱分析系统(1000)的方法包括校准该系统以使用校准样品检测来自包括第一荧光实体和第二荧光实体的生物样品(900)中的第一荧光实体的荧光发射,其中校准样品的特征在于第一浓度的第一荧光实体和第二浓度的第二荧光实体,并且其中第一浓度大于第二浓度。

相关申请的交叉引用

本申请要求于2018年6月8日提交的美国临时专利申请号62/682,819的优先权,其全部内容通过引用合并于此。

背景技术

多光谱分析系统可用于各种测定中,以确定有关生物样品中荧光团和生色团结合以及表达的信息。通常,在样品中有多个光谱贡献者发出或吸收辐射的情况下,来自每个光谱贡献者的贡献被分开以单独评估属性,例如每个贡献者的空间位置和浓度。这样的评估可以提供有关样品的重要信息,包括疾病状态、免疫反应、蛋白质表达和药物治疗的功效。

通常在进行样品评估之前先对多光谱分析系统进行校准。校准通常涉及采取各种步骤来确保此类系统可以解决来自不同光谱贡献者的单独贡献。

发明内容

本文公开的方法和设备在单个校准板孔中使用校准染料的混合物来校准多光谱成像系统。特别地,使用校准染料的混合物来减少或消除相对紧密间隔的光谱通道之间的串扰。串扰通过使来自一个光谱贡献者的贡献污染或掩盖来自另一光谱贡献者的贡献,从而损害了来自各种测定中准确定量信息的恢复能力。

在本文公开的方法和设备中,通过用校准染料的混合物进行校准,可以减少或消除干扰光谱贡献者对测量的感兴趣光谱贡献者的发射或吸收的“背景”贡献。结果,减少了光谱串扰并且增强了光谱复用。换句话说,通过使用特定校准波长或波段的校准染料的混合物,可以增加样品中可以分析的不同荧光团的数量,并且具有至少部分地重叠的发射光谱的荧光团的贡献可以被区分并以准确和精确的方式进行定量分析。

通常,在第一方面,本公开的特征在于用于校准多光谱分析系统的方法,该方法包括校准该系统以使用校准样品来检测来自包括第一荧光实体和第二荧光实体的生物样品中的第一荧光实体的荧光发射,其中校准样品的特征在于第一荧光实体的第一浓度和第二荧光实体的第二浓度,以及其中第一浓度大于第二浓度。

该方法的实施例可以包括以下特征中的任何一个或多个。

第一荧光实体可以是Cy5,第二荧光实体可以是Cy5.5。校准样品可以是包括多个样品孔的校准板。

第一荧光实体的荧光发射光谱可以与第二荧光实体的荧光发射光谱至少部分地重叠。第一和第二荧光实体可以分别与多光谱分析系统中的光谱发射通道相关联,并且可以通过多光谱分析系统在与第二荧光实体相关联的光谱发射通道中检测来自第一荧光实体的荧光发射。

第一和第二荧光实体可以各自是荧光染料。第一荧光实体可以是内源性荧光部分,第二荧光实体可以是荧光染料。相对于校准样品中的第一荧光实体和第二荧光实体的总量,校准样品中的第二荧光实体的分数可以在0.02和0.08之间(例如,在0.03和0.07之间,在0.04和0.06之间)。

该方法可以包括使用校准的多光谱分析系统来识别生物样品中的一个或多个基因靶。

该方法的实施例还可以包括本文公开的任何其他特征,包括结合不同实施例公开的单个特征的任何组合,除非另有明确说明。

在另一方面,本公开内容的特征在于校准样品,其包括特征在于多个样品孔的校准板,其中将校准板的尺寸确定为在多光谱分析系统中接收,以及位于一个或多个孔中的校准组合物,该组合物包括第一荧光实体和第二荧光实体,其中第一荧光实体的荧光发射光谱与第二荧光实体的荧光发射光谱至少部分地重叠。

校准样品的实施例可包括以下特征中的任何一个或多个。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于珀金埃尔默健康科学股份有限公司,未经珀金埃尔默健康科学股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201980038953.8/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top