[发明专利]X射线断层摄影术在审
| 申请号： | 201980026833.6 | 申请日： | 2019-03-18 |
| 公开（公告）号： | CN112218583A | 公开（公告）日： | 2021-01-12 |
| 发明（设计）人： | 赵莹 | 申请（专利权）人： | 森瑟实验室有限责任公司 |
| 主分类号： | A61B6/00 | 分类号： | A61B6/00;A61B6/03;A61B6/06;G01N23/046 |
| 代理公司： | 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 11204 | 代理人： | 王达佐;洪欣 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 射线 断层 摄影术 | ||
1.能够确定对象中目的区域的定性三维x射线图像的x射线测量装置，所述x射线测量装置包括：
x射线源，所述x射线源被配置为在所述目的区域发射x射线辐射，其中所述x射线辐射和/或所述x射线源和/或所述x射线源的相对位置被配置为在二维平面内移动，和；
x射线检测器，其包括布置在与所述x射线源相对的二维平面中的多个检测器元件，所述x射线检测器被配置为检测被所述对象衰减之后的x射线辐射并提供对所检测到的x射线的指示；
处理器，其被配置为接收对所检测到的x射线的指示并将检测到的x射线辐射解析为三维图像。
2.根据权利要求1所述的x射线测量装置，其中所述x射线源的相对空间位置和/或x射线发射位置和/或所述x射线辐射相对于所述对象移动，并且所述x射线源和/或所述x射线发射位置和/或所述x射线辐射被配置为，在两次连续测量之间移动小于一个像素间距和/或移动最相邻的x射线源之间的距离。
3.根据上述权利要求中任一项所述的x射线测量装置，其中，所述x射线源和/或所述x射线发射位置和/或所述x射线辐射被配置为在两次连续测量之间移动一个像素间距。
4.根据上述权利要求中任一项所述的x射线测量装置，其中所述x射线源和/或所述x射线发射位置和/或所述x射线辐射被配置为在两次连续测量之间移动小于1个像素间距至多达10个像素间距。
5.根据上述权利要求中任一项所述的x射线测量装置，其中，所述处理器被配置为通过求解线性方程组将所检测到的x射线辐射解析为三维图像。
6.根据权利要求5所述的x射线测量装置，其中，所述线性方程组解析沿着所述对象的深度指示的和/或在垂直于所述检测器的z轴上的多个未知体素。
7.根据上述权利要求中任一项所述的x射线测量装置，其中，硬件被配置为测量、计算和/或去除散射x射线。
8.根据上述权利要求中任一项所述的x射线测量装置，其中，所述处理器被配置为测量、计算和/或去除散射x射线。
9.根据上述权利要求中任一项所述的x射线测量装置，其中，所述x射线测量装置解析指示对象中的所述目的区域的三维部分的三维空间，其中，所述三维空间在三维中具有未知像素或体素。
10.根据权利要求9所述的x射线测量装置，其中所述三维空间基于体素或像素的单位。
11.根据上述权利要求中任一项所述的x射线测量装置，其中，忽略所述散射。
12.根据上述权利要求中任一项所述的x射线测量装置，其中，在使用短脉冲持续时间x射线爆发的时域分析中测量、计算和/或去除所述散射。
13.根据权利要求12所述的x射线测量装置，其中所述短脉冲持续时间不超过皮秒。
14.根据上述权利要求中任一项所述的x射线测量装置，其中，使用频域分析来测量、计算和/或去除所述散射。
15.根据上述权利要求中任一项所述的x射线测量装置，其中使用衰减阻挡器来测量、计算和/或去除所述散射。
16.根据上述权利要求中任一项所述的x射线测量装置，其中，使用相位延迟器和/或衍射光栅分束器来测量、计算和/或去除所述散射。
17.根据上述权利要求中任一项所述的x射线测量装置，其中，使用干涉测量法测量、计算和/或去除所述散射。
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