[发明专利]用于检测伸长方向的映射部件的方法和设备

权利要求书

1.用于对包括细长的微观结构的部件(12)进行无损映射以确定所述细长的微观结构在所述部件的至少一个兴趣点(24)处的伸长方向的方法，其特征在于，所述方法包括至少两个连续的强度测量步骤(104，104a，104b)，所述强度测量步骤包括以下步骤：

-使线性传感器(14)在多个角度位置中旋转的旋转子步骤(108)，每个角度位置限定出围绕旋转轴线(26，26a，26b)的旋转角度，所述旋转轴线经过所述至少一个兴趣点(24)，所述线性传感器(14)沿着主平面(28)延伸并且包括沿着所述线性传感器(14)的主方向对齐的多个传感器元件，

-由所述多个传感器元件中的每一个在所述兴趣点(24)的方向上在每个角度位置处发射多个初级超声波束(22)的发射子步骤(106)，

-通过所述多个传感器元件中的每一个来测量多个反向散射信号在每个角度位置处的强度的测量子步骤(107)，所述多个反向散射信号是由所述细长的微观结构对所述初级超声波束进行反向散射而导致的，

第一强度测量步骤使得能够获得沿第一旋转轴线(26a)测量的第一系列强度；第二强度测量步骤使得能够获得沿第二旋转轴线(26b)测量的第二系列强度，所述第二旋转轴线不同于所述第一旋转轴线(26a)，

并且所述方法包括将测量的第一系列强度和测量的第二系列强度结合在一起以确定所述微观结构在所述至少一个兴趣点(24)处的伸长方向的结合步骤(124)以及映射步骤，所述映射步骤在每个点处对在所述点(24)处确定的伸长方向进行归一化。

2.根据权利要求1所述的无损映射方法，其特征在于，发射子步骤包括将所述初级超声波束聚焦在与所述至少一个兴趣点(24)相对应的焦点上。

3.根据权利要求1或2所述的无损映射方法，其特征在于，强度测量子步骤还包括根据类正余弦函数对所测量的强度进行标准化，所述类正余弦函数根据所述传感器的旋转角度来表示所测量的强度，所述类正余弦函数尤其具有作为参数的幅度，所述幅度表示伸长率的置信度指数(E)，并且所述类正余弦函数达到最大值时的角度(x0)限定了一直线，所述直线在所述至少一个兴趣点处沿着与所述线性传感器的主平面平行的平面垂直于所述伸长方向。

4.根据权利要求1至3中的一项所述的无损映射方法，其特征在于，针对分布在所述部件上的多个兴趣点确定所述微观结构的伸长方向，并且所述方法包括对所述部件进行3D映射的步骤，在所述部件的3D表示中，所述映射在伸长方向上与每个兴趣点相关联。

5.根据权利要求1至4中的一项所述的无损映射方法，其特征在于，所述第一旋转轴线(26a)与所述第二旋转轴线(26b)之间的角度介于20°至90°之间。

6.根据权利要求1至5中的一项所述的无损映射方法，其特征在于，所述方法包括确定所述细长的微观结构在所述兴趣点处的晶粒的实际尺寸的步骤，所述步骤包括：

-根据预定的数学关系来计算反向散射强度模型的计算步骤，通过将所述细长的微观结构的晶粒的不同尺寸作为参数，利用所述数学关系来计算每个模型，

-将所测量的多个系列强度中的一个与所述强度模型进行比较的比较步骤，所述细长的微观结构的晶粒的实际尺寸与用作参数的尺寸相对应，其中，反向散射强度模型最接近于所测量的多个系列强度。