[发明专利]用于分析SOH的装置和方法

权利要求书

1.一种健康状态(SOH)分析设备，包括：

存储器单元，所述存储器单元被配置成存储参考电池的根据放电深度(DOD)的参考温度数据，或由此计算的具有50％以上的DOD的放电后半部的参考温度增加率(K1)；以及

控制单元，

其中，所述控制单元包括：

测量和记录单元，所述测量和记录单元被配置成：在处于完全充电状态的电池正被放电的同时测量根据DOD的温度数据，并且将所测量的温度数据存储在所述存储器单元中；

计算单元，所述计算单元被配置成：从由所述测量和记录单元获得的所述根据DOD的温度数据计算具有50％以上的DOD的所述放电后半部的温度增加率(K2)；以及

确定单元，所述确定单元被配置成：通过比较所述参考温度增加率(K1)和所述温度增加率(K2)来确定所述电池与所述参考电池相比的劣化程度。

2.一种SOH分析方法，包括：

(a)通过在处于完全充电状态的参考电池正被放电的同时测量所述参考电池的根据DOD的温度来获得根据DOD的参考温度数据；

(b)从所述根据DOD的参考温度数据计算具有50％以上的DOD的放电后半部的参考温度增加率(K1)；

(c)通过在处于完全充电状态的电池正被放电的同时测量根据DOD的电池温度来获得根据DOD的温度数据；

(d)从所述根据DOD的温度数据计算具有50％以上的DOD的所述放电后半部的温度增加率(K2)；以及

(e)通过比较所述参考温度增加率(K1)和所述温度增加率(K2)来确定所述电池与所述参考电池相比的劣化程度。

3.根据权利要求2所述的SOH分析方法，

其中，所述步骤(a)和(c)中的所述放电是恒定电流(CC)放电，并且所述温度是电池表面温度。

4.根据权利要求2所述的SOH分析方法，

其中，在所述步骤(b)和(d)中，所述温度增加率是通过以下步骤来计算的：

通过标绘根据DOD的温度数据来制备温度分布；以及

在所述温度分布中得到起始第二拐点之后获得DOD后半部的曲线切线斜率。

5.根据权利要求2所述的SOH分析方法，

其中，随着所述温度增加率(K2)更大，所述电池被确定为具有更大的劣化程度。

6.一种电池管理系统，所述电池管理系统包括根据权利要求1所述的SOH分析设备。

7.一种计算机可读记录介质，在其上编程并记录有根据权利要求2至5中的任何一项所述的SOH分析方法。

8.一种电池再使用诊断设备，包括：

根据权利要求1所述的SOH分析设备；

电池支架；以及

显示装置，所述显示装置被配置成显示所述SOH分析设备的计算结果或确定结果。

9.一种电池再使用诊断方法，包括：

(a)通过在处于完全充电状态的参考电池正以恒定电流被放电的同时测量所述参考电池的根据DOD的表面温度来获得根据DOD的参考温度分布；

(b)在所述参考温度分布中计算斜率S1；

(c)通过在处于完全充电状态的经受再使用诊断的电池正以恒定电流被放电的同时测量经受再使用诊断的所述电池的根据DOD的表面温度，获得经受再使用诊断的所述电池的根据DOD的温度分布；

(d)在经受再使用诊断的所述电池的根据DOD的温度分布中计算斜率S2’；以及

(e)通过比较所述斜率S1和所述斜率S2’确定所述电池与所述参考电池相比的劣化程度，来确定是否再使用所述电池。

10.根据权利要求9所述的电池再使用诊断方法，在所述步骤(b)与所述步骤(c)之间，还包括：

(b-1)通过在处于完全充电状态的样品电池正以恒定电流被放电的同时获取所述样品电池的根据DOD的表面温度来获得根据DOD的样品温度分布；

(b-2)在所述根据DOD的样品温度分布中计算斜率S2；

(b-3)当所述斜率S2大于所述斜率S1时确定所述样品电池与所述参考电池相比较劣化，并且记录劣化程度与所述斜率S2之间的关联数据；以及

(b-4)对其他样品电池重复所述步骤(b-1)至(b-3)以累积劣化程度与所述斜率S2之间的关联数据，

其中，在所述步骤(e)中，通过根据劣化程度与所述斜率S2之间的所述关联数据得到与所述斜率S2’相对应的劣化程度而诊断经受再使用诊断的所述电池的劣化程度，来确定是否再使用所述电池。