[实用新型]一种镜片面型测试设备有效

专利信息
申请号: 201922465345.5 申请日: 2019-12-31
公开(公告)号: CN211012792U 公开(公告)日: 2020-07-14
发明(设计)人: 王天洲 申请(专利权)人: 南阳示佳光电有限公司
主分类号: G01B5/20 分类号: G01B5/20
代理公司: 郑州锐科知识产权代理事务所(普通合伙) 41171 代理人: 张随
地址: 473000 河南*** 国省代码: 河南;41
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摘要:
搜索关键词: 一种 镜片 测试 设备
【说明书】:

一种镜片面型测试设备,包括水平设置的底板,所述底板上设置有升降装置,升降装置包括限位圆柱、滑动圆柱和套筒,限位圆柱的下端与底板固定连接,限位圆柱的上端与滑动圆柱的下端同轴固定连接,滑滑动圆柱从套筒的下端开口处伸入套筒的内部,套筒的内部竖直设置有压缩弹簧,还包括横梁和测微仪,横梁的左右两端分别与左右两套筒固定连接,横梁上竖直设置有立柱,立柱的下方设置有夹具,所述夹具设置为圆柱形,夹具的底端与底板固定连接,夹具的上端设置有圆形的凹槽,测微仪共设置四个,当套筒的下端下降至与限位圆柱的上端接触时,测微仪的探头与凹槽的槽底面接触设置。总之,本实用新型缩短了镜片面型测量的时间,提高了测量效率。

技术领域

本实用新型涉及光学镜片制造领域,具体涉及一种镜片面型测试设备。

背景技术

镜片是一种采用玻璃或树脂等光学材料制作而成的具曲面的透明材料,如今已经被广泛应用到社会生活的方方面面,为了保证加工完成后的镜片质量,需要对镜片进行面型检测,现有的镜片面型测试技术常采用接触式轮廓检测技术,即采用接触式轮廓仪对镜片进行面型测量,但这种测量方式在测量单个镜片时需要对镜片的整个镜面进行扫描,周期长,花费时间较多,测量效率较低,难以满足大批量生产的需求。

实用新型内容

本实用新型提供一种镜片面型测试设备,所要解决的技术问题为:缩短镜片面型测量的时间,提高测量效率。

为了解决上述技术问题,本实用新型采用如下技术方案:

一种镜片面型测试设备,包括水平设置的底板,所述底板上设置有升降装置,升降装置在左右两侧各设置一个,所述升降装置包括限位圆柱、滑动圆柱和套筒,其中限位圆柱竖直设置,限位圆柱的下端与底板固定连接,限位圆柱的上端与滑动圆柱的下端同轴固定连接,滑动圆柱的直径小于限位圆柱的直径,套筒竖直设置且套筒的上端密封,滑动圆柱从套筒的下端开口处伸入套筒的内部且与套筒滑动配合,套筒的内部竖直设置有压缩弹簧,压缩弹簧的下端通过滑动圆柱的上端面限位,压缩弹簧的上端通过套筒的上端限位;还包括横梁和测微仪,所述横梁沿左右方向设置,横梁的左右两端分别与左右两套筒固定连接,横梁上竖直设置有立柱,立柱的下方设置有夹具,所述夹具设置为圆柱形,夹具的底端与底板固定连接,夹具的上端设置有圆形的凹槽,凹槽与夹具同轴设置,凹槽与待测镜片间隙配合设置,凹槽的槽底面与待测镜片的底面贴合设置,测微仪共设置四个且四个测微仪的探头均竖直设置,四个测微仪的探头成正方形分布且固定设置在立柱上,四个测微仪探头的下端位于同一水平面上,四个测微仪的探头均位于凹槽的上方,夹具的轴线与四个测微仪探头的分布中心同轴设置,当套筒的下端下降至与限位圆柱的上端接触时,测微仪的探头与凹槽的槽底面接触设置。

优选地,所述凹槽的槽壁上设置有至少两个缺口。

优选地,所述测微仪采用电感测微仪。

优选地,所述测微仪采用千分表。

相对于现有技术,本实用新型的有益效果为:在镜片面型的测试过程中,设置多个探头,测量过程通过按压即可测量出待测镜片不同位置的尺寸,省去了扫描镜片的时间,经简单对比即可得出测试结果,简单方便,节省时间;按压式测量时测微仪的探头只与镜片简单接触即可,相较于采用接触式轮廓仪对镜片进行面型测量也可有效减少镜片划伤。总之,本实用新型缩短了镜片面型测量的时间,提高了测量效率。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图;

图2为本实用新型的主视图。

图中:1、底板,2、限位圆柱,3、滑动圆柱,4、套筒,5、横梁,6、立柱,7、测头,8、夹具,801、缺口,9、镜片,10、压缩弹簧。

具体实施方式

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