[实用新型]四通道光模块并行测试系统

说明书

本实用新型涉及光通讯领域，具体涉及一种低成本的四通道光模块并行测试系统，包括DUT测试板、待测四通道光模块、接收端测试单元；所述DUT测试板具有第一处理器，待测四通道光模块与第一处理器电连接；所述接收端测试单元包括至少八个通道的电口误码仪、光源模块、多通道光衰减器、合波器，电口误码仪中的其中四个通道分别与第一处理器双工通信连接，光源模块包括第二处理器、至少四个激光器，电口误码仪中的另外四个通道分别通信第二处理器，第二处理器分别驱动各个TO激光器，各个TO激光器输出的激光分别经多通道光衰减器的各个通道后送入至合波器，合波器的输出端经光纤连接至待测四通道光模块的接收端。

技术领域

本实用新型涉及光通讯领域，具体涉及一种四通道光模块并行测试系统。

背景技术

现有的光模块测试方案为提高测试速率，研发有并行测试系统，常见如文献CN201810322741所示，一般一次性可对四个单通道光模块进行并行测试，测试时，四个光模块插接在DUT测试板的四个金手指插座(即工位)上，然后分发送端测试(Transmitter)和接收端测试(Receiver)两部分进行测试。

发送端测试中，DUT测试板驱动四个光模块的发送端发出激光，四个激光分别经光纤接入光分路器，由光分路器择一输出至示波器(DCA)，用示波器(DCA)实现光眼图、OMA、消光比等发送端测试。

接收端测试中，用四个光口误码仪(BERT)分别输出激光至四个光模块的接收端，DUT测试板与各光口误码仪通信，实现接收灵敏度测试、RSSI(DDM监视光功率)、SD/SDA(告警/去告警)等收端测试。

上述并行测试系统的缺陷是：

(1)只针对单通道光模块，无法适用于四通道光模块测试；

(2)系统整体架构复杂，需采用多台光口误码仪及电口误码仪搭配使用，光纤线路众多，连接不便且成本高昂。

实用新型内容

本实用新型的目的在于针对现有技术中的不足，而提供一种低成本的四通道光模块并行测试系统。

本实用新型的目的通过以下技术方案实现：

提供一种四通道光模块并行测试系统，包括DUT测试板、待测四通道光模块、接收端测试单元；

所述DUT测试板具有第一处理器，待测四通道光模块与第一处理器电连接；

所述接收端测试单元包括至少八个通道的电口误码仪、光源模块、多通道光衰减器、合波器，电口误码仪中的其中四个通道分别与第一处理器双工通信连接，光源模块包括第二处理器、至少四个激光器，电口误码仪中的另外四个通道分别通信第二处理器，第二处理器分别驱动各个TO激光器，各个TO激光器输出的激光分别经多通道光衰减器的各个通道后送入至合波器，合波器的输出端经光纤连接至待测四通道光模块的接收端。

进一步地，所述发送端测试单元包括第一波分器、光分路器、示波器，待测四通道光模块的发送端经光纤连接至第一波分器，由第一波分器分出四路激光分别送入光分路器，光分路器的输出端连接至示波器。

进一步地，所述接收端测试单元还包括多芯光纤连接器、第二波分器，所述各个激光器的发送端分别连接多芯光纤连接器的各条输入线芯，多芯光纤连接器的输出线芯连接至第二波分器的输入端，第二波分器的输出端分出多路激光分别送入多通道光衰减器。

进一步地，所述激光器是TO激光器。

进一步地，DUT测试板具有适配于四通道光模块的金手指插座，待测四通道光模块插接于金手指插座上，经金手指插座与第一处理器电连接。

本实用新型的有益效果：

(1)适用于四通道光模块，能一次性并行测完四通道光模块的四个通道；