[实用新型]一种引线框架的光照检测机有效

专利信息
申请号: 201922180715.0 申请日: 2019-12-06
公开(公告)号: CN211756988U 公开(公告)日: 2020-10-27
发明(设计)人: 熊志;陈杰华;朱怀亮;钱淑辉;张欣 申请(专利权)人: 泰兴市永志电子器件有限公司
主分类号: B07C5/342 分类号: B07C5/342;B07C5/02;B07C5/36;B07C5/38
代理公司: 北京辰权知识产权代理有限公司 11619 代理人: 孙瑞峰
地址: 225400 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 引线 框架 光照 检测
【说明书】:

实用新型提供了一种引线框架的光照检测机,涉及集成电路引线及引线框架技术领域,包括检测机工作台、检测料放置槽、夹持上料装置、传输带、孔洞检测器、收料装置和控制面板;检测机工作台包括底座和检测机壳体,检测料放置槽、夹持上料装置、孔洞检测机和收料装置均安装在检测机壳体内,控制面板安装在检测机壳体外部,检测料放置槽和传输带并列安放,夹持上料装置连接在检测机壳体的顶部,同时位于检测料放置槽和传输带的上端,夹持上料装置包括夹持爪、伸缩杆和上料滑轨;孔洞检测器包括设置在检测机壳体顶部的两组摄像头,且摄像头两侧均设有照明灯。本实用新型能够有效解决引线框架检测效率低,人工的检测误差和漏检,自动化程度低的问题。

技术领域

本实用新型涉及集成电路引线及引线框架技术领域,尤其涉及一种引线框架的光照检测机。

背景技术

引线框架作为集成电路的芯片载体,是一种借助于键合金丝实现芯片内部电路引出端与外引线的电气连接,形成电气回路的关键结构件,它起到了和外部导线连接的桥梁作用,绝大部分的半导体集成块中都需要使用引线框架,是电子信息产业中重要的基础材料。引线框架主要用模具冲压法和化学蚀刻法进行生产。

现有技术中,引线框架生产过程中采用光电传感器检测产品质量,该检测方法相比传统的接触检测和人眼检测方法具有明显的优点。但是,光电传感器检测方法易受到干扰,检测过程只接受光线遮挡作为判断条件,因此对被检测物打的判断能力非常有限,对输送被检测物的输送装置的工作精度要求高。

实用新型内容

为克服现有技术中的引线框架检测效率低,自动化程度低人工的检测误差和漏检的问题,提出了一种引线框架的光照检测机,包括检测机工作台、检测料放置槽、夹持上料装置、传输带、孔洞检测器、收料装置和控制面板;所述检测机工作台包括底座和检测机壳体,所述检测料放置槽、夹持上料装置、孔洞检测机和收料装置均安装在检测机壳体内,所述控制面板安装在检测机壳体外部,所述检测料放置槽和传输带并列安放,所述夹持上料装置连接在检测机壳体的顶部,同时位于检测料放置槽和传输带的上端,所述夹持上料装置包括夹持爪、伸缩杆和上料滑轨;所述孔洞检测器包括设置在检测机壳体顶部的两组摄像头,且摄像头两侧均设有照明灯,所述检测料放置槽是由两个对称放置的链轮组组成的槽体,包括链条和滚轮,且所述链轮组的外缘均匀的分布有支板,其中支板与链条垂直,所述收料装置包括导向板、排序架和推板,所述控制面板连接夹持上料装置、传输带、孔洞检测器、收料装置。

通过采用上述技术方案,通过检测料放置槽自动上升,经过夹持上料装置将引线框架夹持到传输带上,经过传输带上方的两组摄像头将引线框架的信息传输到控制面板上进行体现,摄像头两侧的照明灯可以将传输板上的引线框架照射清楚,最后在传输带的末端收料装置进行收料,最后通过收料装置上的排序架将检测完成的引线框架输送出来,实现了基本的自动化控制,且设备可以不间断的工作,效率有了很大的提高,避免了人工检测误差和漏检。

作为优选的,所述检测机工作台上的检测机壳体为长方体结构的透明玻璃框,且检测机壳体的侧面设有开口,所述检测机工作台上的底座底部设有移动滚轮。

通过采用上述技术方案,检测壳体采用长方体结构的透明玻璃的设计,可以方便工作人员在检测机的外侧观察其运行情况,同时对检测机内部起到防护作用,底座上设有的移动滚轮可以方便其移动。

作为优选的,所述伸缩杆的顶部与上料滑轨活动连接,且伸缩杆与上料滑轨垂直,所述伸缩杆的底部与夹持爪固定连接。

通过采用上述技术方案,伸缩杆可以调节夹持爪所在的高度,来配合检测料放置槽来实现对引线框架的精准传输,上料滑轨在夹持爪夹料之后,通过其移动将引线框架输送到传输带上。

作为优选的,所述摄像头两侧的照明灯采用LED灯,且照明灯与摄像头的底座连接处设有转轴。

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